|
Vliv aditiv na elektrické vlastnosti epoxidových pryskyřic
Šebesta, Petr ; Kazelle, Jiří (oponent) ; Frk, Martin (vedoucí práce)
Práce rozebírá současný stav ve výrobě a vývoji zalévacích hmot na bázi epoxidových pryskyřic. Práce probíhala ve spolupráci s firmou SYNPO, a.s. Pardubice, která poskytla vzorky pryskyřic s různými aditivy k měření. Práce je rozdělena do tří teoretických a jedné praktické kapitoly. První kapitola pojednává o dielektricích obecně. Zabývá se jejich charakteristickými vlastnostmi a ději v nich probíhajících. Druhá kapitola probírá epoxydové pryskyřice, jejich složení, výrobu a aplikaci ve výrobě. Třetí kapitola nabízí pohled na měřící metody používané v elektrotechnice pro diagnostiku dielektrik. V praktické části je popsán způsob výroby vzorků a jejich složení a následně způsob jejich měření s vyhodnocením naměřených dat.
|
|
Chování feroelektrik v elektrickém poli
Krejčí, Josef ; Rozsívalová, Zdenka (oponent) ; Frk, Martin (vedoucí práce)
Předložená práce popisuje vlastnosti a použití feroelektrických materiálů nacházejících uplatnění v elektrotechnickém a elektronickém průmyslu. Práce je zaměřena zejména na jejich chování v elektrickém poli o různých intenzitách a na možných diagnostických metodách. Jako nejvhodnější měřící metoda je zvolena metoda pomocí osciloskopu, která je v práci detailněji popsána. Měřicí laboratorní pracoviště pro zjišťování vlastností feroelektrických materiálů v elektrickém poli bylo s dostupným přístrojovým vybavením inovováno, následně jeho funkčnost ověřena a na vybraných vzorcích feroelektrik byla proměřena teplotní a napěťová závislost složek komplexní permitivity a elektrického stavu materiálu. K dané problematice byl také vytvořen elektronický text použitelný jako návod pro laboratorní cvičení, který je nedílnou součástí této práce.
|
| |
|
Chování feroelektrik v teplotní oblasti
Czanadi, Jindřich ; Polsterová, Helena (oponent) ; Rozsívalová, Zdenka (vedoucí práce)
Předložená práce popisuje vlastnosti a využití feroelektrických materiálů, které mají uplatnění v elektronickém a elektrotechnickém průmyslu. Práce pojednává o chování feroelektrik v teplotní oblasti. Bylo navrženo vhodné pracoviště a jeho funkčnost byla ověřena na vybraných vzorcích feroelektrik v závislosti teploty na složkách komplexní permitivity.
|
| |
|
Feroelektrika v elektrickém poli
Pavelka, Petr ; Rozsívalová, Zdenka (oponent) ; Frk, Martin (vedoucí práce)
Předložená práce popisuje vlastnosti a použití feroelektrických materiálů nacházejících uplatnění v elektrotechnickém a elektronickém průmyslu. Práce je zaměřena zejména na jejich chování v elektrickém poli o různých intenzitách. Jako nejvhodnější měřící metoda byla volena metoda pomocí osciloskopu. Pro vlastní měření v praktické části byl vyroben experimentální přípravek s pěti vzorky, jejíchž vlastnosti byly následně proměřeny. Pro zaznamenání hysterezní smyčky byl vytvořen program v programovém prostředí VEE PRO a jeho funkčnost byla ověřena na vyrobeném přípravku, kde byla zároveň proměřena i napěťová závislost složek komplexní permitivity.
|
|
Charakterizace bezolovnatých piezoelektrických keramik
Šťastná, Magdaléna ; Holcman, Vladimír (oponent) ; Tofel, Pavel (vedoucí práce)
Tato práce se zabĂ˝vá seznámenĂm se se základnĂ charakterizacĂ bezolovnatĂ˝ch piezokeramik, kterĂ© se vyrábÄ›jĂ na pracovišti CEITEC. ChovánĂ tÄ›chto piezokeramik je mĂrnÄ› odlišnĂ© od klasickĂ˝ch olovnatĂ˝ch piezokeramik. Ăšvodnà část je vÄ›nována dielektrikĹŻm a zpĹŻsobĹŻm jejich polarizace. Do zpĹŻsobĹŻ polarizace dielektrik patřà i piezoelektrickĂ˝ jev, kterĂ˝ se projevuje pouze u krystalĹŻ bez stĹ™edovĂ© soumÄ›rnosti. V dalšà části teorie je pozornost zaměřena na piezoelektrickĂ© materiály, konkrĂ©tnÄ› piezoelektrickĂ© polymery a piezoelektrickĂ© keramiky. NásledujĂcĂ bod práce se vÄ›nuje návrhu experimentálnĂho pracovištÄ› pro pĹ™ĂmĂ© měřenĂ piezoelektrickĂ©ho nábojovĂ©ho koeficientu đť‘‘33. Experimentálnà část práce je zaměřena na měřenĂ nábojovĂ©ho koeficientu piezokeramik pomocĂ pĹ™ĂmĂ© (Berlincourt) metody a metody nepĹ™ĂmĂ© (piezoelektrická kĹ™ivka na pĹ™Ăstroji AixACCT).
|
|
Dielektrické vlastnosti epoxidových pryskyřic
Matoušová, Klára ; Novák, Vítězslav (oponent) ; Kazelle, Jiří (vedoucí práce)
Tato diplomová práce se zabývá základními vlastnostmi epoxidových směsí, jelikož určení základních parametrů připravené epoxidové směsi by v případě příznivých výsledků mohlo vést ke snížení počtu vad v epoxidem zalévaných přístrojových transformátorech. Jelikož působení vlivů v průběhu výroby transformátorů, způsobující nekvalitu, je velmi rozsáhlé, je největší důraz kladen právě na vliv složení epoxidové licí směsi. V práci je popsána technologie výroby včetně používaných metod a materiálů. Dále složení epoxidových pryskyřic a mechanismy při jejich vytvrzování. Rovněž jsou zahrnuty definice základních vlastností dielektrických materiálů a popis diagnostických metod sloužících k určování permitivity, ztrátového činitele a vnitřní rezistivity. V rámci experimentální části byly stanoveny a vysušeny vhodné odlitky získaných vzorků a následně byla provedena měření základních elektrických vlastností v teplotních a kmitočtových závislostech. Dále následuje srovnání jednotlivých sad vzorků a zhodno-cení jejích elektrických vlastností.
|
| |
|
Evaluation of Different Dielectrics For Mid-Infrared Waveguides
Konečný, Aleš ; Arregi Uribeetxebarria, Jon Ander (oponent) ; Detz, Hermann (vedoucí práce)
The utilization of plasmon polariton waveguides for mid-infrared light has proven its suitability for sensor applications. The waveguide can be surrounded by a gaseous or liquid phase medium, which contains an analyte substance of which the concentration can be measured. The electromagnetic field propagates along the waveguide, which has to satisfy low losses and sufficient interaction conditions. These are fulfilled using a thin dielectric layer applied on a metal surface. This thesis is focused on Si-based dielectrics. Within this work, multilayer waveguides were fabricated by high vacuum magnetron sputtering, plasma-enhanced vapor deposition and photolithography. The deposition was carried out on commonly used Si substrates and is ready to be transfered to InP-based chips. Evaluation of dielectric layers and fabrication methods are based on ellipsometric measurements of refractive index and extinction coefficient in the infrared spectrum.
|