|
|
Příprava a testování SNOM sond speciálních vlastností
Bobek, Juraj ; Pavera, Michal (oponent) ; Spousta, Jiří (vedoucí práce)
Oblasť výskumu, ktorá sa zaoberá úpravou povrchov a tvorbou nanoštruktúr, je ešte stále velmi neprebádaná. A iba malý príspevok do tejto oblasti je pojednávaný v tejto bakalárskej práci. Jej cieľom je výroba a testovanie sondy z dutého optického vlákna určenej do rastrovacej sondovej mikroskopie. Parametre optického vlákna v kombinácii s vhodnou technikou umožnia prelom mnohým zaujímavým aplikáciam. Za zmienku stojí vstrekovanie plynu do blízkosti povrchu vzorky (GIS) a jeho následná modifikácia použitím elektrónového (FEBID), iónového (FIBID) alebo laserového zväzku.
|
|
|
Příprava a testování SNOM sond se speciálními vlastnostmi
Hertl, Vít ; Kvapil, Michal (oponent) ; Spousta, Jiří (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce je zaměřena na přípravu funkčních sond z konvenčního dutého optického vlákna a jejich testování při měření na aparatuře SNOM. Dále se zde studují speciální vlastnosti těchto sond především jejich využití jako "nanoGIS". Předpokládá se vyřešení hlavních problémů spojených s přípravou sondy jako je například leptání vlákna zevnitř.
|
|
|
Field emission from the surface of highly ordered pyrolytic graphite
Knápek, Alexandr ; Pokorná, Zuzana
This paper deals with the electrical characterization of highly ordered pyrolytic graphite (HOPG) surface based on field emission of electrons. The effect of field emission, occurs only at disrupted surface, i.e. surface containing ripped and warped shreds of the uppermost layers of graphite. These deformations provide the necessary field gradients which are required for measuring tunneling current caused by field electron emission. Results of the field emission measurements are correlated with other surface\ncharacterization methods such as scanning near-field optical microscopy (SNOM) or atomic force microscopy. A simple method utilizing the field emission of electrons has been devised to characterize the sample surface. Electron and probe microscopies were used to determine the structure of both the bulk sample and the partially exfoliated shreds of the uppermost layers of graphite in locations where field emission is observed.
|
|
|
Metody zobrazování a analýzy biologických vzorků
Novotná, Veronika ; Tománek, Pavel (oponent) ; Knápek, Alexandr (vedoucí práce)
Bakalářská práce se věnuje vlastnostem lidských tkání a bakterií z mikroskopického hlediska. Dále popisuje fyzikální principy mikroskopovacích technik SNOM a elektronové mikroskopie (TEM, SEM, ESEM) a jejich vhodnost pro pozorování biologických preparátů. Následující část se zabývá transformací dat z elektronového mikroskopu z časové do obrazové roviny a práci se vzniklými obrazy. Další kapitola je věnována experimentální přípravě preparátů pro SEM/ESEM a SNOM. Protože jsou zde v současné době tendence využít mikroskopovací techniku SNOM v biologické výzkumu je cílem práce srovnání možností zmíněných mikroskopovacích technik pro pozorování biologických vzorků a zhodnocení, zda je možné pro tyto účely nahradit obecně drahý EM levnějším SNOM. EM i SNOM totiž umožňují získat rozdílnou nicméně srovnatelnou a komplementární informaci o zkoumaném vzorku.
|
|
|
Studium optických vlastností kovových struktur a jejich využití v nanooptice
Neuman, Tomáš ; Munzar,, Dominik (oponent) ; Kalousek, Radek (vedoucí práce)
Interakce kovových struktur s elektromagnetickým zárením je živoucím tématem oboru optiky blízkého pole, které zahrnuje oblasti plasmoniky a nanofotoniky. Interakce svetla a látky na rozmerech menších než vlnová délka zárení otevírají možnosti aplikacím, jakými jsou mezi jinými nejruznejší varianty povrchove zesílené spektroskopie. V této práci se teoreticky zabýváme mapováním vlastností blízkého pole kovových struktur pomocí mikroskopie v blízkém poli rozptylového typu. Diskutujeme zde mechanismus tvorby signálu za podmínek, kdy je možné sondu mikroskopu považovat za slabe rozptylující. V další cásti práce objasnujeme mechanismus povrchove zesílené infracervené spektroskopie pomocí numerických simulací a analytického modelu. Aparát aplikujeme na systém lineární dipólové antény interagující s vrstvou vzorku. Pomocí analytického modelu a numerických simulací nalézáme na vhodném modelu spojení mezi formací spektroskopického signálu a signálu mikroskopie v blízkém poli.
|
|
|
Buzení a detekce plazmonových polaritonů
Šustr, Libor ; Schmidt, Eduard (oponent) ; Kalousek, Radek (vedoucí práce)
Diplomová práce je věnována problematice buzení a detekce povrchových plazmonových polaritonů viditelným světlem. Nejdříve jsou připomenuty základní pojmy jako vlnění, elektromagnetická vlna, světlo na rozhraní a optické vlastnosti kovů. Nejsou zde provedeny důkazy, ale jen naznačení s odkazy na literaturu. Pomocí těchto pojmů ukážeme na existenci povrchových plazmonových polaritonů. Po seznámení s jejich vlastnostmi budou zřejmé důvody k zavedení speciálních excitačních a detekčních metod. Z nich jsou popsány zejména buzení povrchových plazmonových polaritonů hranolem, periodickou mřížkou a mikroskopem SNOM. Poslední dvě kapitoly jsou věnovány počítačovým simulacím a experimentům spojeným s těmito metodami. Tím se čtenáři naskytne možnost ověření teoretických poznatků z předchozích kapitol. Výsledky simulací doplní výklad k buzení hranolem a periodickou mřížkou a srovnají se s výsledky experimentu, kterým je buzení povrchových plazmonových polaritonů periodickou mřížkou na povrchu hliníku.
|
|
|
Lokální charakterizace elektronických součástek
Müller, Pavel ; Škarvada, Pavel (oponent) ; Tománek, Pavel (vedoucí práce)
Vývoj mikro a nano elektroniky a nanooptiky si vyžaduje nové charakterizační techniky k zajištění kvality navrhovaných součástek. Práce popisuje použití skenovacího optického mikroskopu v blízkém poli (SNOM) v rozměrové kontrole a v lokálním vyšetřování různých parametrů. Příklad jeho potenciálu korelace mezi topografií a odrazivostí měřených kondenzátorů je popsána v této práci.
|
|
|
SNOM sondy se speciálními vlastnostmi
Slabý, Vít ; Kalousek, Radek (oponent) ; Spousta, Jiří (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá skenovací mikroskopií v blízkém poli (SNOM). Pomocí SNOM je experimentálně měřeno blízké pole interference povrchových plazmonových polaritonů (PPP) na strukturách tvořených drážkami na kovové vrstvě a je diskutován vliv charakteristik měřicí sondy na výsledky měření. Vliv některých charakteristik je numericky simulován. Poznatky získané v předchozí práci jsou využity pro konstrukční návrh experimentální aparatury nazvané NanoGIS, která má sloužit pro přípravu nanostruktur.
|
|
| |
|
|
Modelování lokálních plazmonových rezonancí
Dvořák, Petr ; Dub, Petr (oponent) ; Kalousek, Radek (vedoucí práce)
Tato práce je věnována plasmonovým rezonančním systémům. V první části se zabývá analytickým a numerickým popisem chování povrchových plazmonových polaritonů na kovových anténkách v blízkosti rohu. Druhá část této práce je věnována simulacím rozptylu světla na Ga vrchlících deponovaných na Si substrátu. Na závěr jsou uvedeny možnosti měření rezonancí systémů pomocí metody SNOM.
|
host ::
RSS.