Hlavní stránka > Výsledky hledání: keywords:"Transmission electron microscope"
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 11 záznamů.  předchozí11 - 11  přejít na záznam: Hledání trvalo 0.01 vteřin. 
Transmission of Electrons through Thin Films by Scanning Low Energy Electron Microscopy
 Müllerová, Ilona ; Hovorka, Miloš ; Fořt, Tomáš ; Frank, Luděk
For examination of thin films by transmitted electrons (TE) the Transmission Electron Microscope is used at primary beam energies in hundreds of keV. The Scanning Electron Microscopes (SEM) utilize reflected electrons in order to image surfaces but recently the TE mode has been introduced into SEM at much lower electron energies.
Úplný záznam

Národní úložiště šedé literatury : Nalezeno 11 záznamů.   předchozí11 - 11  přejít na záznam:
Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English