Hlavní stránka > Výsledky hledání: Sopata,, Milan
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:

Žádný přesný výsledek pro Sopata,, Milan nebyl nalezen, zkusme místo něj použít Sopata Milan ...
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 2 záznamů.  Hledání trvalo 0.09 vteřin. 
Návrh a identifikace rozšířeného modelu MEMS gyroskopu
 Vágner, Martin ; Sopata,, Milan (oponent) ; Tůma, Jiří (oponent) ; Beneš, Petr (vedoucí práce)
Práce se zabývá metodikou měření parametrů MEMS gyroskopů a stanovením vstupně-výstupního modelu. V úvodu je stručně rozebrán stávající přístup k modelování MEMS gyroskopů a určení jejich parametrů. Druhá část se podrobně věnuje metodice měření a identifikaci zdrojů nejistot, které ovlivňují odhad parametrů. V rámci metodiky měření jsou zdůrazněny kritické body a vliv jednotlivých zdrojů nejistot je ukázán na základě naměřených dat či simulací. Vlastnosti MEMS gyroskopů jsou prakticky demonstrovány na skupině různých typů snímačů. Výsledky ukazují významný vliv napájecího napětí na posun nuly gyroskopu a interního teplotního snímače. Tento jev může způsobit chybu srovnatelnou s teplotní závislostí či stochastickými vlastnostmi, ale není v literatuře popsán. Druhým jevem, který není stávajícími modely uvažován, je závislost širokopásmového šumu (ARW) na teplotě. Na základě těchto poznatků je v poslední části rozšířen běžně používaný model MEMS gyroskopu o závislost parametrů na napájecím napětí a závislost širokopásmového šumu na teplotě. Tvar modelu je zvolen s ohledem na jednoduché porovnání základních parametrů a v případě potřeby na snadné rozšíření o další vlivy.
Úplný záznam
Návrh a identifikace rozšířeného modelu MEMS gyroskopu
 Vágner, Martin ; Sopata,, Milan (oponent) ; Tůma, Jiří (oponent) ; Beneš, Petr (vedoucí práce)
Práce se zabývá metodikou měření parametrů MEMS gyroskopů a stanovením vstupně-výstupního modelu. V úvodu je stručně rozebrán stávající přístup k modelování MEMS gyroskopů a určení jejich parametrů. Druhá část se podrobně věnuje metodice měření a identifikaci zdrojů nejistot, které ovlivňují odhad parametrů. V rámci metodiky měření jsou zdůrazněny kritické body a vliv jednotlivých zdrojů nejistot je ukázán na základě naměřených dat či simulací. Vlastnosti MEMS gyroskopů jsou prakticky demonstrovány na skupině různých typů snímačů. Výsledky ukazují významný vliv napájecího napětí na posun nuly gyroskopu a interního teplotního snímače. Tento jev může způsobit chybu srovnatelnou s teplotní závislostí či stochastickými vlastnostmi, ale není v literatuře popsán. Druhým jevem, který není stávajícími modely uvažován, je závislost širokopásmového šumu (ARW) na teplotě. Na základě těchto poznatků je v poslední části rozšířen běžně používaný model MEMS gyroskopu o závislost parametrů na napájecím napětí a závislost širokopásmového šumu na teplotě. Tvar modelu je zvolen s ohledem na jednoduché porovnání základních parametrů a v případě potřeby na snadné rozšíření o další vlivy.
Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English