Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 8 záznamů.  Hledání trvalo 0.01 vteřin. 
Study of valence band structure of transition metals and alloys by ARUPS method
Pira, Peter ; Matolín, Vladimír (vedoucí práce) ; Libra, Jiří (oponent)
Jednou z oblastí, kde sa sústreďuje pozornosť fyziky povrchov je aj heterogénna katalýza. Aplikovaný výskum sa snaží preskúmať procesy, ktoré pri katalýze nastávajú. Ich poznaním sa dajú predpovedať katalytické vlastnosti bimetalických zliatin. Úlohou diplomovej práce bolo štúdium valenčného pásu prechodových prvkov. V rámci tohto štúdia sa vyšetroval systém Pd(111) a jeho bimetalické povrchové zlúčeniny s Sn. Nosnou metódou tejto práce bola metóda ARUPS s dorazom na XPD, využívali sa aj metódy XPS a LEED. Všetky metódy patria medzi klasické metódy štúdia povrchov.
Characterization and focusing of capillary-discharge XUV-laser beam for purposes of thin-film deposition
Pira, Peter ; Wild, Jan (vedoucí práce)
Název práce: Charakterizace a fokusace svazku kapilárního XUV laseru pro účely depozice Katedra / Ústav: Katedra fyziky povrchů a plazmatu Vedoucí disertační práce: doc. RNDr. Jan Wild, CSc., Katedra fyziky povrchů a Abstrakt: Práce se zabývá prvními výsledky interakce záření XUV stolního kapilárního repetičního laseru o vlnové délce 46,9 nm s materiály vhodnými pro optoelektroniku, zejména iontovými krystaly CsI, LiF aj. Pomocí metod fyziky povrchů (AFM, DIC byly zkoumány otisky dopadu pulzního laseru. Na základě získaných výsledků byly získány ABLATOR. Plazma vznikající při ablaci bylo zkoumáno přizpůsobeným Klíčová slova: ablace, PLD, XUV laser
Characterization and focusing of capillary-discharge XUV-laser beam for purposes of thin-film deposition
Pira, Peter ; Wild, Jan (vedoucí práce)
Název práce: Charakterizace a fokusace svazku kapilárního XUV laseru pro účely depozice Katedra / Ústav: Katedra fyziky povrchů a plazmatu Vedoucí disertační práce: doc. RNDr. Jan Wild, CSc., Katedra fyziky povrchů a Abstrakt: Práce se zabývá prvními výsledky interakce záření XUV stolního kapilárního repetičního laseru o vlnové délce 46,9 nm s materiály vhodnými pro optoelektroniku, zejména iontovými krystaly CsI, LiF aj. Pomocí metod fyziky povrchů (AFM, DIC byly zkoumány otisky dopadu pulzního laseru. Na základě získaných výsledků byly získány ABLATOR. Plazma vznikající při ablaci bylo zkoumáno přizpůsobeným Klíčová slova: ablace, PLD, XUV laser
Characterization and focusing of capillary-discharge XUV-laser beam for purposes of thin-film deposition
Pira, Peter ; Wild, Jan (vedoucí práce) ; Čuba, Václav (oponent) ; Tichý, Milan (oponent)
Název práce: Charakterizace a fokusace svazku kapilárního XUV laseru pro účely depozice Katedra / Ústav: Katedra fyziky povrchů a plazmatu Vedoucí disertační práce: doc. RNDr. Jan Wild, CSc., Katedra fyziky povrchů a Abstrakt: Práce se zabývá prvními výsledky interakce záření XUV stolního kapilárního repetičního laseru o vlnové délce 46,9 nm s materiály vhodnými pro optoelektroniku, zejména iontovými krystaly CsI, LiF aj. Pomocí metod fyziky povrchů (AFM, DIC byly zkoumány otisky dopadu pulzního laseru. Na základě získaných výsledků byly získány ABLATOR. Plazma vznikající při ablaci bylo zkoumáno přizpůsobeným Klíčová slova: ablace, PLD, XUV laser
Material properties of lithium fluoride for predicting XUV laser ablation rate and threshold fluence
Blejchař, T. ; Nevrlý, V. ; Vašinek, M. ; Dostál, Michal ; Pečínka, L. ; Dlabka, J. ; Stachoň, M. ; Juha, Libor ; Bitala, P. ; Zelinger, Zdeněk ; Pira, P. ; Wild, J.
This paper deals with prediction of extreme ultraviolet (XUV) laser ablation of lithium fluoride at nanosecond timescales. Material properties of lithium fluoride were determined based on bibliographic survey. These data are necessary for theoretical estimation of surface removal rate in relevance to XUV laser desorption/ablation process. Parameters of XUV radiation pulses generated by the Prague capillary-discharge laser (CDL) desktop system were assumed in this context. Prediction of ablation curve and threshold laser fluence for lithium fluoride was performed employing XUV-ABLATOR code. Quasi-random sampling approach was used for evaluating its predictive capabilities in the means of variance and stability of model outputs in expected range of uncertainties. These results were compared to experimental data observed previously.
Study of valence band structure of transition metals and alloys by ARUPS method
Pira, Peter ; Matolín, Vladimír (vedoucí práce) ; Libra, Jiří (oponent)
Jednou z oblastí, kde sa sústreďuje pozornosť fyziky povrchov je aj heterogénna katalýza. Aplikovaný výskum sa snaží preskúmať procesy, ktoré pri katalýze nastávajú. Ich poznaním sa dajú predpovedať katalytické vlastnosti bimetalických zliatin. Úlohou diplomovej práce bolo štúdium valenčného pásu prechodových prvkov. V rámci tohto štúdia sa vyšetroval systém Pd(111) a jeho bimetalické povrchové zlúčeniny s Sn. Nosnou metódou tejto práce bola metóda ARUPS s dorazom na XPD, využívali sa aj metódy XPS a LEED. Všetky metódy patria medzi klasické metódy štúdia povrchov.

Viz též: podobná jména autorů
7 Pira, Peter
Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.