Ondráček, František - Výsledky hledání - Digitální repozitář

host :: přihlásit Digitální repozitář
		Hledej		Nový záznam		Nápověda		O repozitáři

Hlavní stránka > Výsledky hledání: Ondráček, František

Hledej:

Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání

Hledej ve sbírkách:

Seřadit podle:	Zobrazit výsledky:	Výstupní formát:

	Příprava optických vlnovodů ve speciálně navržených Er- a Yb- dotovaných silikátových sklech iontovou výměnou Ag.sup.+./sup./Na.sup.+./sup Salavcová, Linda ; Ondráček, František ; Míka, M. ; Špirková, J. Byla provedena úprava podmínek iontové výměny Ag.sup.+./sup./Na.sup.+./sup. za účelem snížení optických ztrát a úpravy n(x) profilu vytvořených vlnovodů. Pozitivní výsledky byly dosaženy při použití taveniny s nízkým obsahem Ag.sup.+./sup. iontů a následném vyžíhání vzorků. Úplný záznam
	Diagnostika kanálkových vlnovodů laditelným polovodičovým laserem Ondráček, František ; Skalský, Miroslav ; Čtyroký, Jiří V příspěvku je popsáno uspořádání pro nově budované měřící pracoviště s laditelným polovodičovým laserem a jsou prezentovány první výsledky spektrálního měření útlumu a grupového indexu lomu rezonátorovou metodou v kanálkových vlnovodech. Kanálkové vlnovody byly připraveny metodou iontové výměny ve speciálních sklech, protonovou výměnou v monokrystalu LiNbO.sub.3./sub. i difúzí titanu do LiNbO.sub.3./sub.. Jsou diskutovány výhody i úskalí použité metody a je naznačen směr dalšího vývoje měřící metodiky na pracovišti. Úplný záznam
	ECIO'03 Prague. Proceedings of the 11th European Conference on Integrated Optics Prague Čtyroký, Jiří ; Hubálek, Milan ; Ondráček, František Proceedings from the 11th Europaen Conference on Integrated Optics ECIO'03 held in Praque on 2-4 April 2003 bringsa full texts of most of invited lectures and tutorials and 92 contributed papers that were accepted for presentation after a thorough review procedure. Úplný záznam
	Diagnostika vertikálně vázaného kruhového mikrorezonátoru Ondráček, František ; Čtyroký, Jiří ; Skalský, Miroslav Bylo provedeno měření vertikálně vázaného kruhového mikrorezonátoru vytvořeném Si.sub.3./sub.N.sub.4./sub.-SiO.sub.2./sub. technologií pomocí jemně laditelného polovodičového laseru. Byla změřena spektrální odezva vyčleňovacího portu mikrorezonátoru a spočítány důležité parametry jako jsou jemnost mikrorezonátoru, vzdálenost rezonančních frekvencí mikrorezonátoru a grupový efektivní index. Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.

Digitální repozitář :: :: :: ::
Powered by v1.1.2
Spravuje

Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky English