Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 8 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Analýza a modifikace tenkých vrstev pomocí iontových svazků
Jonner, Jakub ; Lörinčík, Jan (oponent) ; Bábor, Petr (vedoucí práce)
Tato diplomová práce se zabývá analýzou a modifikací tenkých vrstev pomocí iontových svazků. První část diplomové práce nabízí úvod do teorie interakce iontů s pevnou látkou. Druhá část diplomové práce se věnuje hmotnostní spektroskopii sekundárních iontů (SIMS) a spektroskopii rozptylu iontů nízkých energií (LEIS). Tato práce poskytuje nejen základní informace o těchto dvou metodách, ale zabývá se také výhodami plynoucími z jejich spojení v paralelním módu hloubkového profilování. Tyto výhody (lepší hloubkové rozlišení LEIS profilů, kvantifikace metody SIMS) jsou demonstrovány na příkladu měření MoSi multivrstev. V rámci této diplomové práce byl také navrhnut nový UHV manipulátor, vybavený precizním krokovým UHV motorkem, který umožňuje, díky svým kompaktním rozměrům, pohodlnější a přesnější manipulaci paletky se vzorkem v omezeném prostoru UHV komory. Třetí část diplomové práce se zabývá možností transformace krystalové struktury metastabilních Fe vrstev na Cu(100) svazkem Ar+ iontů. Fe vrstvy s metastabilní fcc strukturou byly připraveny napařováním Fe v atmosféře CO (u 22 monovrstev tlustých Fe vrstev) a napařováním Fe spolu s invarem - Fe64Ni36 (u 44 monovrstev tlustých Fe vrstev). Změny krystalové struktury jsou studovány pomocí rastrovacího tunelového mikroskopu a pomocí difrakce pomalých elektronů. Tato práce se zaměřuje zejména na určení vlivu různých energií iontů a různých iontových dávek na tvorbu a růst bcc nanokrystalů, jejich konečný tvar a velikost. U Fe vrstev napařených spolu s invarem se pak tato práce zaměřuje na stanovení procentuálního množství Ni v Fe vrstvě potřebného pro depozici Fe vrstev s metastabilní fcc strukturou.
Analýza ultratenkých vrstev metodami SIMS a TOF-LEIS
Duda, Radek ; Lörinčík, Jan (oponent) ; Bábor, Petr (vedoucí práce)
Studium možností hloubkového profilování vrstev kombinací metod SIMS a TOF-LEIS.
Magnetic reconnection and its manifestations in solar flares and eruptions
Lörinčík, Juraj ; Dudík, Jaroslav (vedoucí práce) ; Masson, Sophie (oponent) ; Varady, Michal (oponent)
Slnečné erupcie sú prejavmi náhleho uvol'nenia magnetickej energie v slnečnej atmosfére. Táto energia sa uvol'ňuje magnetickou rekonexiou, procesom, pri ktorom sa konektivita siločiar magne- tického pol'a mení tak, aby bol dosiahnutý stav s nižšou energiou. Štandardný model slnečných erupcií v 3D poskytol niekol'ko predpovedí, akým spôsobom sa rekonexia deje v troch rozmeroch. Naše výsledky zamerané na rôzne aspekty 3D rekonexie predpovedané modelom sú predstavené v piatich publikáciách, ktoré sú súčast'ou tejto dizertačnej práce. Analyzujeme evolúciu a mor- fológiu siedmych erupcií pozorovaných prístrojom Atmospheric Imaging Assembly na sonde So- lar Dynamics Observatory. V prvej publikácii (Lörinčík a kol. 2019a) sme interpretovali variácie v rýchlostiach k'lžúcich erupčných jadier pomocou mapovacej normy konektivity siločiar magne- tického pol'a simulovanej v modeli. V Lörinčík a kol. (2019b) sme ukázali, že pozorovaná konverzia vláken filamentu na erupčné slučky je prejavom rekonexie v geometrii 'ar-rf', medzi siločiarami erupčného tokového lana a koronálnych arkád, ktoré ho prekrývajú. V d'alšom pozorovaní (Dudík, Lörinčík a kol. 2019) sme úspešne identifikovali všetky zložky tejto geometrie a taktiež geometrie...
Effect of implantation of C, Si and Cu into ZrNb nanometric multilayers
Daghbouj, N. ; Karlík, M. ; Lorinčík, J. ; Polcar, T. ; Callisti, M. ; Havránek, Vladimír
Sputter-deposited Zr/Nb nanometric multilayer films with a periodicity (L) in the range from 6 to 167 nm were subjected to carbon, silicon and copper ion irradiation with low and high fluences at room temperature. The ion profiles, mechanical proprieties, and disordering behavior have been investigated by using a variety of experimental techniques (Secondary Ion Mass Spectrometry - SIMS, nanoindentation, X-ray diffraction - XRD, and scanning transmission electron microscopy - STEM). On the STEM bright field micrographs there is damage clearly visible on the surface side of the multilayer. Deeper, the most damaged and disordered zone, located close to the maximum ion concentration, was observed. The in-depth C and Si concentration profiles obtained from SIMS were not affected by the periodicity of the nanolayers. This is in accordance with SRIM simulations. XRD and electron diffraction analyses suggest a structural evolution in relation to L. After irradiation, Zr (0002) and Nb (110) reflexions overlap for L=6 nm. For the periodicity L > 6 nm the Zr (0002) peak is shifted to higher angles and Nb (110) peak is shifted to lower angles.
Analýza a modifikace tenkých vrstev pomocí iontových svazků
Jonner, Jakub ; Lörinčík, Jan (oponent) ; Bábor, Petr (vedoucí práce)
Tato diplomová práce se zabývá analýzou a modifikací tenkých vrstev pomocí iontových svazků. První část diplomové práce nabízí úvod do teorie interakce iontů s pevnou látkou. Druhá část diplomové práce se věnuje hmotnostní spektroskopii sekundárních iontů (SIMS) a spektroskopii rozptylu iontů nízkých energií (LEIS). Tato práce poskytuje nejen základní informace o těchto dvou metodách, ale zabývá se také výhodami plynoucími z jejich spojení v paralelním módu hloubkového profilování. Tyto výhody (lepší hloubkové rozlišení LEIS profilů, kvantifikace metody SIMS) jsou demonstrovány na příkladu měření MoSi multivrstev. V rámci této diplomové práce byl také navrhnut nový UHV manipulátor, vybavený precizním krokovým UHV motorkem, který umožňuje, díky svým kompaktním rozměrům, pohodlnější a přesnější manipulaci paletky se vzorkem v omezeném prostoru UHV komory. Třetí část diplomové práce se zabývá možností transformace krystalové struktury metastabilních Fe vrstev na Cu(100) svazkem Ar+ iontů. Fe vrstvy s metastabilní fcc strukturou byly připraveny napařováním Fe v atmosféře CO (u 22 monovrstev tlustých Fe vrstev) a napařováním Fe spolu s invarem - Fe64Ni36 (u 44 monovrstev tlustých Fe vrstev). Změny krystalové struktury jsou studovány pomocí rastrovacího tunelového mikroskopu a pomocí difrakce pomalých elektronů. Tato práce se zaměřuje zejména na určení vlivu různých energií iontů a různých iontových dávek na tvorbu a růst bcc nanokrystalů, jejich konečný tvar a velikost. U Fe vrstev napařených spolu s invarem se pak tato práce zaměřuje na stanovení procentuálního množství Ni v Fe vrstvě potřebného pro depozici Fe vrstev s metastabilní fcc strukturou.
Analýza ultratenkých vrstev metodami SIMS a TOF-LEIS
Duda, Radek ; Lörinčík, Jan (oponent) ; Bábor, Petr (vedoucí práce)
Studium možností hloubkového profilování vrstev kombinací metod SIMS a TOF-LEIS.
Films of Metal Nanoparticles Deposited on Semiconductors by Electrophoresis: Technology and Characterization
Žďánský, Karel ; Zavadil, Jiří ; Kacerovský, Pavel ; Kostka, František ; Lorinčík, Jan ; Černohorský, O. ; Fojtík, A. ; Müller, M. ; Kostejn, M.
Layers of nanoparticles in micelle enclosures were deposited on InP substrates by electrophoresis from isooctane colloid solutions containing Pd or Ag nanoparticles. The layers were investigated by SIMS, low-temperature photoluminescence spectroscopy and topography, absorption spectroscopy, Raman spectroscopy and sensitivity to hydrogen. Photoluminescence of InP was enhanced by the layers of Pd or Ag nanoparticles. Schottky barriers made on the n-type InP with layers containing Pd nanoparticles showed significant sensitivity to hydrogen in contrast to those containing Ag nanoparticles.
Vliv vrstev nitridu křemíku na difuzní délku minoritních nosičů v Si
Toušek, J. ; Toušková, J. ; Poruba, A. ; Bařinka, R. ; Hlídek, P. ; Lorinčík, Jan
Hlavním cílem práce bylo porovnání nitridu křemíku připraveného metodami LP CVD a MW PE CVD ze silanu a čpavku s ohledem na možnost pasivace c-Si povrchových vrstev. Vlastnosti vrstev nitridu křemíku byly studovány metodami SPV, FTIR a SIMS. Průměrná hodnota difuzní délky minoritních nosičů v Si vzorcích s LP CVD nitridem byla kratší a závisela na místě v reaktoru.

Viz též: podobná jména autorů
1 Lörinčík, Juraj
Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.