Hlavní stránka > Výsledky hledání: Krajňák, Matúš
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 2 záznamů.  Hledání trvalo 0.01 vteřin. 
Focused ion beam sample preparation for transmission elektron microscopy
 Krajňák, Matúš ; Matolínová, Iva (vedoucí práce) ; Matolín, Vladimír (oponent)
Práce zkoumá možnosti tvorby vzorků pro transmisní elektronový mikroskop pomocí řádkovacího elektronového mikroskopu (SEM) a fokusovaného iontového svazku (FIB). Zkoumá vliv tvorby ochranných povrchů na vzorku pomocí Pt, W a SiO2 elektrony, respektive ionty, indukovanou depozici. Lamela je vykopána pomocí FIB a následně je pomocí nanomanipulátora a wolframového hrotu přenesena na držák pro transmisní elektronový mikroskop, kde je uchycena pomocí depozice a dále ztenčována pomocí FIB. Výsledné vzorky jsou porovnávány pomocí zobrazení v SEM a parametry výroby jsou optimalizovány tak, aby výsledný vzorek byl co nejméně ovlivněn procesem výroby.
Úplný záznam
Focused ion beam sample preparation for transmission elektron microscopy
 Krajňák, Matúš ; Matolínová, Iva (vedoucí práce) ; Matolín, Vladimír (oponent)
Práce zkoumá možnosti tvorby vzorků pro transmisní elektronový mikroskop pomocí řádkovacího elektronového mikroskopu (SEM) a fokusovaného iontového svazku (FIB). Zkoumá vliv tvorby ochranných povrchů na vzorku pomocí Pt, W a SiO2 elektrony, respektive ionty, indukovanou depozici. Lamela je vykopána pomocí FIB a následně je pomocí nanomanipulátora a wolframového hrotu přenesena na držák pro transmisní elektronový mikroskop, kde je uchycena pomocí depozice a dále ztenčována pomocí FIB. Výsledné vzorky jsou porovnávány pomocí zobrazení v SEM a parametry výroby jsou optimalizovány tak, aby výsledný vzorek byl co nejméně ovlivněn procesem výroby.
Úplný záznam

Viz též: podobná jména autorů
4 Krajňák, Martin
Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English