Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 2 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Modifikace hrotu pro zobrazování nanostruktur v AFM s vysokým rozlišením
Faitová, Hana ; Matolínová, Iva (vedoucí práce) ; Vorokhta, Mykhailo (oponent)
Mikroskopie atomárních sil (AFM) je mladá a široce používaná metoda zob- razování povrchu, nanostruktur, biologických a dalších citlivých objektů pomocí rastrujícího hrotu na ohebném raménku. Při provozu na vzduchu dosahuje rozli- šení několika nanometrů, toto rozlišení je závislé zejména na používaném hrotu. Předložená práce se zabývá modifikací použitých hrotů pomocí uhlíkových nano- trubiček (CNT) v řádkovacím elektronovém mikroskopu (SEM) za využití tech- niky fokusovaného iontového svazku (FIB) a soustavy vstřikování plynných pre- kurzorů (GIS). Je zde prezentováno několik postupů přípravy vzorků CNT a jejich připevnění na hrot pro AFM. Funkčnost hrotů byla ověřována v AFM za pomoci kalibračních vzorků složených z definovaných nanostruktur. 1
Úprava hrotu pro AFM pomocí FIB/GIS v řádkovacím elektronovém mikroskopu
Faitová, Hana ; Matolínová, Iva (vedoucí práce) ; Dvořák, Filip (oponent)
Mikroskopie atomárních sil (AFM) je široce využívanou metodou pozorování povrchové struktury látek. Získávání informací o reliéfu je uskutečňováno pomocí velmi ostrého hrotu upevněného na ohebném držáku. Tím přejíždíme po povrchu a snímáme jeho ohnutí za pomoci odrazu laserového paprsku. Hrot se ovšem tímto procesem opotřebovává, tupí a znečišťuje. Práce se zabývá možností opravy hrotů, které mají stále ještě funkční držáky. Při práci byla využita technika fokusovaného iontového svazku (FIB) a soustava plynných prekurzorů (GIS), které jsou zabudovány v řádkovacím elektronovém mikroskopu (SEM). Byly zkoumány různé postupy a parametry iontového obrábění a depozice. Upravené hroty byly testovány pomocí AFM na pracovišti KFPP. Powered by TCPDF (www.tcpdf.org)

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.