Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 3 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Využití mikroskopu k diagnostice struktury materiálu a poruch u el. zařízení
Cvak, Jan ; Hájek, Vítězslav (oponent) ; Veselka, František (vedoucí práce)
Cílem této práce je popsat možnosti využití mikroskopu pro dokumentaci vad a inovací elektrických strojů. Použil jsem elektronový mikroskop pro zdokumentování uhlíkových kartáčů a nanomateriálů pro možnou inovaci kluzného kontaktu. Využití mikroskopů nám dává detailnější informace o struktuře materiálů, v místech největšího namáhání elektrického stroje. Na základě zjištěných údajů, lze pokračovat v analýze a inovaci uhlíkového kartáče.
Využití mikroskopu k diagnostice struktury materiálu a poruch u el. zařízení
Cvak, Jan ; Hájek, Vítězslav (oponent) ; Veselka, František (vedoucí práce)
Cílem této práce je popsat možnosti využití mikroskopu pro dokumentaci vad a inovací elektrických strojů. Použil jsem elektronový mikroskop pro zdokumentování uhlíkových kartáčů a nanomateriálů pro možnou inovaci kluzného kontaktu. Využití mikroskopů nám dává detailnější informace o struktuře materiálů, v místech největšího namáhání elektrického stroje. Na základě zjištěných údajů, lze pokračovat v analýze a inovaci uhlíkového kartáče.
Using the Microscope for Diagnostics of Structure of Materials and Fault El. Equipment
Cvak, J.
The goal of this thesis is to describe the possibility of using a microscope for documentation of defects and innovation of electrical machines. I used an electron microscope to document carbon brushes and nanomaterials for possible upgrade of the sliding contact. Used microscopes gives us detailed information about the structure of materials at locations with the largest stress in the electrical machine. Collected data can be further analyzed and and carbon brushes can be innovated according to the results.

Viz též: podobná jména autorů
2 Cvak, Jan
Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.