|
|
Instrumentovaný indentační test v nano- a mikroměřítku
Buršíková, V. ; Buršík, Jiří ; Bláhová, O. ; Dušek, J. ; Navrátil, V.
Vybrali jsme několik materiálů pro pokrytí širokého rozsahu tvrdosti a struktury,jmenovitě čistou měď,nikl,titan,kadmium,zinek a stříbro.Nanoindentační tvrdost a mikrotvrdost byly měřeny v širokém intervalu zatížení metodou instrumentovaného indentačního testu a porovnány s klasickou Vickersovou mikrotvrdostí s ohledem na závislost tvrdosti na velikosti zátěže.
|
|
|
Diamond growth on silicon and WC-Co by microwave plasma chemical vapor deposition
Frgala, Z. ; Kudrle, V. ; Janča, J. ; Buršíková, V. ; Vašina, P. ; Meško, M. ; Buršík, Jiří ; Kadlečíková, M. ; Klapetek, P.
We studied the growth of microcrystalline diamond films on pre-treated Si and WC-Co substrates by microwave plasma chemical vapor deposition.We observed the interesting time dependence of the negative bias voltage during nucleation stage which is useful for nucleation process monitoring. The layers were analysed by Raman spectroscopy, scanning electron microscopy and atomic force microscopy.
|
|
| |
|
| |
|
| |
host ::
RSS.