Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 17 záznamů.  předchozí11 - 17  přejít na záznam: Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Combined scintillation and ionisation detectors for environmental scanning electron microscopes
Romanovský, Vladimír ; Autrata, Rudolf
One of the recent directions in the field of scanning electron microscopy deals with observation of specimens at higher pressures in the specimen chamber. Owing to the presence of the gaseous medium, charging effects are suppressed for specimens of insulation character, and at the same time the observation of biological specimens without their prior treatment is made possible. The constructed combined scintillation and ionisation detector extends the applications of these microscopes and enables copmarison of behaviour and properties of both detectors.
Application of low-energy backscattered electron detection in the inspection of semiconductor devices technology
Hutař, Otakar ; Oral, Martin ; Müllerová, Ilona ; Romanovský, Vladimír
The low energy backscattered electron (BSE) detector, equipped with an electrostatic immersion lens for the retardation of the primary electron beam (PE) was elaborated and used for the imaging of surface semiconductor device specimens in a commercial SEM. Despite the signal of BSE is generally lower than that obtained using secondary electrons (SE), the achieved results predestine this BSE detection method as a suitable tool for the inspection of the fine structures of semiconductor devices and linewidth measurement of critical dimension (CD).
Elektrostatický nízkoenergiový rastrovací elektronový mikroskop pro Augerovu analýzu
Romanovský, V. ; El Gomati, M. M. ; Frank, Luděk ; Müllerová, Ilona
Byl realizován rastrovací nízkoenergiový elektronový mikroskop (SLEEM) s katodovou čočkou, v níž jako katoda slouží vzorek připojený na záporný potenciál. V tomto uspořádání procházejí elektrony mikroskopem s vysokou energií a na nízkou energii jsou bržděny těsně před svým dopadem na vzorek. Takový systém zajišťuje vysokou úroveň signálu dokonce i při energiích dopadu v desítkách nebo jednotkách eV. Používání primárních elektronů o nízké energii přináší mnohé problémy, jako např. nízký jas zdroje, zvětšené zobrazovací vady a citlivost k rušivým polím. Rastrovací Augerova mikroskopie (SAM) je dobře zavedenou experimentální metodou. Kombinace SAM a SLEEM v jediném zařízení by tedy představovala nástroj postačující k vyřešení problémů, s nimiž se tyto metody potýkají jednotlivě. Ačkoliv již bylo mnohé vykonáno na poli detekce pomalých elektronů, žádná z metod známých v současnosti není způsobilá k zabudování do rastrovacího osvětlovacího tubusu pro analytickou Augerovu mikrosondu

Národní úložiště šedé literatury : Nalezeno 17 záznamů.   předchozí11 - 17  přejít na záznam:
Viz též: podobná jména autorů
7 Romanovský, Vladimír
Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.