|
|
GAP analýza systému řízení bezpečnosti informací
Konečný, Martin ; Tomáš,, Krejčí (oponent) ; Sedlák, Petr (vedoucí práce)
Diplomová práce se zaměřuje na GAP analýzu systému řízení bezpečnosti informací. Práce se skládá z teoretické, analytické a praktické části. První část pojednává o teoretických východiscích problematiky informační a kybernetické bezpečnosti. Analytická část popisuje současný stav ve zkoumané společnosti. Výstupem práce je návrh registru rizik a návrh zavedení bezpečnostních opatření. Návrh cílí na opatření vedoucí k zvýšení bezpečnosti informací ve společnosti
|
|
|
Informační systém pro školy
Kupský, Michal ; Konečný, Martin (oponent) ; Kříž, Jiří (vedoucí práce)
Bakalářská práce se zabývá návrhem informačního systému pro školy. V první části své práce zmíním teoretické podklady pro tuto práci. Následující část se bude zabývat analýzou součastné situace ve školství, která bude zaměřena na způsoby komunikace školy s rodiči (zákonnými zástupci) dětí. V třetí části popíšu návrh databázového systému, který má zjednodušit a zlepšit informovanost rodičů o prospěchu a chování jejich potomků
|
|
|
Aplikace KPM na povrchu grafén/Si modifikovaném metodou FIB
Konečný, Martin ; Rezek, Bohuslav (oponent) ; Bartošík, Miroslav (vedoucí práce)
Tato diplomová práce je zaměřená na aplikaci kelvinovské hrotové mikroskopie na grafenu připraveného metodou chemické depozice z plynné fáze. Teoretická část pojednává o kelvinovské hrotové mikroskopii, o metodě fokusovaného iontového svazku a o základních vlastnostech grafenu a jeho výrobě. Experimentální část je zaměřená na přípravu grafenových membrán na podložním substrátu modifikovaném fokusovaným iontovým svazkem a na měření povrchového potenciálu na takto připravených membránách. Dále se experimentální část zabývá možností využití mikroskopu atomárních sil při přípravě grafenových nanostruktur.
|
|
|
Application of Scanning Probe Microscope in Nanoscience and Nanotechnology
Konečný, Martin ; Klapetek, Petr (oponent) ; Fejfar, Antonín (oponent) ; Bartošík, Miroslav (vedoucí práce)
This doctoral thesis is devoted to application of Scanning Probe Microscopy (SPM) in nanoscience and nanotechnologies with the main focus on advanced Atomic Force Microscopy (AFM) techniques, such as conductive AFM (cAFM), Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), and their utilization in graphene research. First, a brief introduction to SPM techniques is provided and followed by a review of recent application of AFM and KPFM in characterization of graphene and graphene-based devices. Further, the doctoral thesis introduces a novel approach to combine AFM with Scanning Electron Microscopy (SEM). The review leads to estimation of main topics of doctoral research. These topics cover a study of electrical communication between separated graphene sheets, electrical properties of hydrogenated graphene and characterization of graphene-metal nanostructures used for biosensing. The work is further focused on a demonstration of correlative AFM/SEM imaging and on a technical realization of advanced techniques on AFM specially designed for integration into SEM. Each topic is discussed and supported by relevant experimental results. Finally, the prospects of future research is outlined.
|
|
|
Měření lokální elektrické vodivosti v poklepovém režimu AFM
Dao, Radek ; Konečný, Martin (oponent) ; Pavera, Michal (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce je zaměřena na vývoj sondy pro měření lokální elektrické vodivosti v poklepovém režimu mikroskopie atomárních sil. Teoretická část práce podává stručný přehled rastrovací sondové mikroskopie a jejích mnohých měřicích technik, především pak vodivostní mikroskopie atomárních sil. Tato část také popisuje měřicí režim, v němž navržená sonda pracuje. Na závěr je zde představena křemenná ladička tvořící základ sondy. Praktická část sleduje postupný vývoj sondy jako takové a zahrnuje kapitolu věnovanou výrobě velmi ostrých vodivých hrotů potřebných pro elektrická měření. Závěr praktické části je věnován výrobě testovacích vzorků, na kterých byla prokázána funkčnost sondy, a samotnému měření lokální elektrické vodivosti.
|
|
|
Rychlé skenování EPR spektroskopie na relevantních radikálech k DNP
Fargač, Tomáš ; Konečný, Martin (oponent) ; Sojka, Antonín (vedoucí práce)
Elektronová paramagnetická resonanční (EPR) spektroskopie je fyzikálněchemická metoda sloužící pro zkoumání látek s nepárovými elektrony. Zkoumá rozdělení energií spinu nepárového elektronu v magnetickém poli a přechody mezi jednotlivými spinovými stavy vyvolané působením mikrovlnného záření. Tato bakalářská práce je zaměřena na popis EPR spektroskopie, na výpočet relaxačních časů pomocí rychlých skenů radikálů a na vývoj automatického párovacího softwaru pro skládání Gaussovských paprsků. Výsledek této práce je implementace vyvinutého softwaru, vyhodnocení jeho vlivu na kvalitu signálu a následný výpočet relaxačních časů.
|
|
| |
|
| |
|
|
Počítačová síť v moderní domácnosti
Konečný, Martin ; Jordán, Vilém (oponent) ; Ondrák, Viktor (vedoucí práce)
Bakalářská práce se zabývá návrhem počítačové sítě pro moderní dům a oddělený kancelářský objekt. Vychází z analýzy stavebního projektu, dle kterého má být tato síť realizována a následně specifikuje konkrétní postupy a prvky, které budou použity při realizaci. Součástí práce je rovněž analýza nákladů a potřebná technická dokumentace.
|
|
|
Use of a special optical fiber in an electron microscope chamber
Černek, Ondrej ; Konečný, Martin (oponent) ; Pavera, Michal (vedoucí práce)
This bachelor thesis is concerned about the modification of vacuum chamber of the Scanning Electron Microscope VEGA developed by TESCAN Brno s.r.o. in order to implementation of Scanning Probe Microscope. Moreover, it is dedicated to development of apparatus for using hollow optical fiber allowing the guidance of light and various gases on the sample surface placed in the vacuum of electron microscope. By using the hollow optical fiber as a probe of Scanning Probe Microscope, it is possible to work with a tip with specific properties. A brief introduction to Scanning Electron Microscopy and Atomic Force Microscopy is presented in the theoretical part. Furthermore, there is a technique of using optical fibers in Scanning Near-field Optical Microscopy described. Also a problem of vacuum systems, gas flow through the pipe and technique of Gas Injection System is introduced. In the construction part, there are initiated steps in the development of the vacuum chamber and the apparatus allowing the guidance of hollow optical fiber into the chamber of microscope. The experimental part presents the result of measurements obtained by probe of Scanning Probe Microscope with modified optical fiber and gas transmissivity of hollow optical fiber.
|
host ::
RSS.