Hlavní stránka > Výsledky hledání: recid:349302
Hledej:
 
Tipy pro vyhledávaní :: Jednoduché hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 1 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 

Warning: Requested record does not seem to exist.
Úprava hrotu pro AFM pomocí FIB/GIS v řádkovacím elektronovém mikroskopu
 Faitová, Hana ; Matolínová, Iva (vedoucí práce) ; Dvořák, Filip (oponent)
Mikroskopie atomárních sil (AFM) je široce využívanou metodou pozorování povrchové struktury látek. Získávání informací o reliéfu je uskutečňováno pomocí velmi ostrého hrotu upevněného na ohebném držáku. Tím přejíždíme po povrchu a snímáme jeho ohnutí za pomoci odrazu laserového paprsku. Hrot se ovšem tímto procesem opotřebovává, tupí a znečišťuje. Práce se zabývá možností opravy hrotů, které mají stále ještě funkční držáky. Při práci byla využita technika fokusovaného iontového svazku (FIB) a soustava plynných prekurzorů (GIS), které jsou zabudovány v řádkovacím elektronovém mikroskopu (SEM). Byly zkoumány různé postupy a parametry iontového obrábění a depozice. Upravené hroty byly testovány pomocí AFM na pracovišti KFPP. Powered by TCPDF (www.tcpdf.org)
Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English