Hlavní stránka > Výsledky hledání: recid:32551
Hledej:
 
Tipy pro vyhledávaní :: Jednoduché hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 1 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 

Could not find similar documents for this query.
Geometrical aspects of connection between surface reggedness and resistance of thin films
 Franc, J. ; Janda, Pavel ; Novotný, Jan
The relationship between the ruggedness of substrate surface and the resistance of sputtered NiCr films was studied. The geometrical model in which the surface unevenness is simulated by pyramid was derived. The increase of R/ on a rugged surface in comparison with a polished one was calculated. Ruggedness on real surfaces was analysed by means of AFM microscopy. Obtained data were compared with the model.
Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English