Hlavní stránka > Výsledky hledání: keywords:"mapování elastické deformace"
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 2 záznamů.  Hledání trvalo 0.01 vteřin. 
Užití elektronové difrakce k mapování elastického napětí
 Ondračka, Václav ; Kuběna, Ivo (oponent) ; Spousta, Jiří (vedoucí práce)
Metoda difrakce zpětně odražených elektronů je známou a běžně používanou metodou k určení orientace a velikosti zrn. Její použití pro mapování elastické deformace a ro- tace způsobené plastickými deformacemi tak rozšířené není. Tato diplomová práce se věnuje popisu standardního EBSD systému. Poznatků o použitých soustavách, notace orientace zrn a kalibrace systému je pak využito pro vytvoření svobodného softwaru pro mapování elastické deformace a rotace v rámci jediného zrna nebo monokrystalu, pracujícího s daty získanými z komerčních EBSD systémů.
Úplný záznam
Užití elektronové difrakce k mapování elastického napětí
 Ondračka, Václav ; Kuběna, Ivo (oponent) ; Spousta, Jiří (vedoucí práce)
Metoda difrakce zpětně odražených elektronů je známou a běžně používanou metodou k určení orientace a velikosti zrn. Její použití pro mapování elastické deformace a ro- tace způsobené plastickými deformacemi tak rozšířené není. Tato diplomová práce se věnuje popisu standardního EBSD systému. Poznatků o použitých soustavách, notace orientace zrn a kalibrace systému je pak využito pro vytvoření svobodného softwaru pro mapování elastické deformace a rotace v rámci jediného zrna nebo monokrystalu, pracujícího s daty získanými z komerčních EBSD systémů.
Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English