Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 4 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Image contrasts in the scanning electron microscopy
Konvalina, Ivo ; Hovorka, Miloš ; Mikmeková, Šárka ; Müllerová, Ilona
When interpreting the image contrasts we have to consider all instrument parameters that influence the transport of signal electrons to the detector. Several examples are presented.
Imaging of dopants under presence of surface ad-layers
Mika, Filip ; Hovorka, Miloš ; Frank, Luděk
Scanning electron microscopy is widely used for imaging of semiconductor structures. Image contrast between differently doped areas is observable in the secondary electron emission. Quantitative relation exists between the image contrast and the dopant concentration. However, further examination has shown the dopant contrast level of low reproducibility and dependent on additional factors like the primary electron dose, varying energy and angular distributions of the SE emission and also presence of ad-layers on the semiconductor surface.
Metody přímého zobrazování hustoty stavů pomocí elektronů
Pokorná, Zuzana ; Frank, Luděk
Tato práce zkoumá možnosti metody SLEEM pro přímé mapování lokální hustoty elektronových stavů. Hlavními problémy jsou nezanedbatelná úhlová apertura dopadajícího elektronového svazku a změna úhlu dopadu při rastrování po povrchu vzorku. Tyto podmínky vyžadují, aby byl model tvorby obrazového kontrastu přehodnocen.
Detekce signálu segmentovým ionizačním detektorem
Černoch, P. ; Jirák, Josef
Článek se zabývá detekcí signálu segmentovým ionizačním detektorem. Jsou studovány změny kontrastů mikrosnímku v závislosti na odlišných potenciálech na elektrodách segmentového ionizačního detektoru. Součástí experimentu jsou simulace drah elektronů v elektrostatických polích detektorů vyhotovené v programu Simion 3D 7.0.

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.