|
|
Advanced electron diffraction methods for structural description of zeolites
Laštovičková, Anna ; Mazur, Michal (vedoucí práce) ; Tyrpekl, Václav (oponent)
Elektronová difrakce (ED) je metoda používaná pro stanovení struktury krystalických materiálů. Představuje alternativu k monokrystalické rentgenové difrakci (SCXRD), která je často omezena velikostí syntetizovaných krystalů. Elektronová difrakce umožňuje analýzu materiálů v nanoměřítku, což ji činí užitečnou pro vzorky, jejichž krystaly jsou pro jiné metody příliš malé. Ke sběru difrakčních obrazců využívá elektrony a lze ji měřit v transmisním elektronovém mikroskopu (TEM). Analýzou získaných difrakčních obrazců lze stanovit parametry krystalické buňky, typ mřížky, a dokonce i samotnou krystalickou strukturu. Nicméně stanovení struktury ze standardních difraktogramů vyžaduje rozsáhlé znalosti a sběr těchto dat je časově náročný. Současný vývoj ED se zaměřuje na usnadnění a automatizaci sběru a zpracování dat. V případě kontinuální rotační elektronové difrakce (cRED) trvá sběr dat pouze několik minut, což umožňuje stanovení struktury materiálu během jediného dne. V této práci představuji využití metody cRED pro strukturní charakterizaci zeolitů. Tyto materiály jsou často syntetizovány jako polykrystalické vzorky s nanokrystaly. Proto jejich strukturu většinou nelze určit pomocí SCXRD. Prášková rentgenová difrakce (PXRD) je standardní technikou pro ověření struktur zeolitů, avšak stanovení struktury...
|
|
|
Užití elektronové difrakce k mapování elastického napětí
Ondračka, Václav ; Kuběna, Ivo (oponent) ; Spousta, Jiří (vedoucí práce)
Metoda difrakce zpětně odražených elektronů je známou a běžně používanou metodou k určení orientace a velikosti zrn. Její použití pro mapování elastické deformace a ro- tace způsobené plastickými deformacemi tak rozšířené není. Tato diplomová práce se věnuje popisu standardního EBSD systému. Poznatků o použitých soustavách, notace orientace zrn a kalibrace systému je pak využito pro vytvoření svobodného softwaru pro mapování elastické deformace a rotace v rámci jediného zrna nebo monokrystalu, pracujícího s daty získanými z komerčních EBSD systémů.
|
|
|
Užití elektronové difrakce k mapování elastického napětí
Ondračka, Václav ; Kuběna, Ivo (oponent) ; Spousta, Jiří (vedoucí práce)
Metoda difrakce zpětně odražených elektronů je známou a běžně používanou metodou k určení orientace a velikosti zrn. Její použití pro mapování elastické deformace a ro- tace způsobené plastickými deformacemi tak rozšířené není. Tato diplomová práce se věnuje popisu standardního EBSD systému. Poznatků o použitých soustavách, notace orientace zrn a kalibrace systému je pak využito pro vytvoření svobodného softwaru pro mapování elastické deformace a rotace v rámci jediného zrna nebo monokrystalu, pracujícího s daty získanými z komerčních EBSD systémů.
|
host ::
RSS.