Hlavní stránka > Výsledky hledání: Čechvala, Juraj
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 2 záznamů.  Hledání trvalo 0.01 vteřin. 
Investigation of nanostructured films
 Čechvala, Juraj ; Kousal, Jaroslav (vedoucí práce) ; Mistrík, Jan (oponent)
V tejto práci sú študované optické vlastnosti plazmových polymérov za použitia spektroskopickej elipsometrie. Sú popísané základné princípy elipsometrie. Je porovnávaná vhodnosť rôznych elipsometrických modelov na modelovanie tenkých vrstiev plazmových polymérov. Je študovaná stabilita vrstiev naprašovaného nylonu. Je charakterizovaný vplyv depozičných podmienok na optické vlastnosti vrstiev uhlovodíkových plazmových polymérov. Je otestovaná použiteľnosť elipsometrickej drsnosti na charakterizáciu nanoštrukturovaných hydrofóbnych vrstiev. Je určené plnenie kompozitov kov/plazmový polymér a porovnané s inými metódami určovania plnenia.
Úplný záznam
Infračervená spektroskopie nanokompozitních vrstev kov / plazmový polymer
 Čechvala, Juraj ; Kousal, Jaroslav (vedoucí práce) ; Hlídek, Pavel (oponent)
Úplný záznam

Viz též: podobná jména autorů
1 Čechvala, Jakub
Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English