National Repository of Grey Literature 2 records found  Search took 0.00 seconds. 
Near-field excited photoluminescence mapping
Klok, Pavel ; Ledinský, Martin (referee) ; Dvořák, Petr (advisor)
Tato práce se zabývá mapováním fotoluminiscence (PL) pomocí buzení blízkého pole (NF), které slouží ke zkoumání optoelektronických vlastností v nanometrovém měřítku. Díky překonání omezení tradičních optických technik v dalekém poli zkoumá jevy na menších rozměrech, které by jinak byly nedostupné. Hlavní důraz je kladen na NF rastrovací optickou mikroskopii, která umožňuje pozorování poddifrakčních jevů u studovaných vzorků. Významným přínosem této práce je zavedení časově rozlišitelného mapování PL v NF, tedy průlomové metody pro studium dynamických procesů pod hranicí difrakce. Tento přístup představuje nový přínos pro tento obor, což potvrzuje i přehled literatury uvedený v této práci. Díky pečlivému vyhodnocení a interpretaci měření PL tato práce rozšiřuje naše znalosti o optických vlastnostech olovnatých halogenidových perovskitů a jejich potenciálních aplikacích např. pro solární články. Dále odhaluje dosud neprozkoumané možnosti v oblasti časově rozlišitelného mapování PL v NF a poskytuje dosud nevídaný náhled do dynamických procesů pod difrakčním limitem. Posunutím hranic optického výzkumu na úrovni nanorozměrů vytváří tato diplomová práce základ pro nové směry zkoumání v této oblasti.
Characterization of nanostructures by the near-field optical microscopy (SNOM)
Pagáčová, Lenka ; Kalousek, Radek (referee) ; Škoda, David (advisor)
The bachelor theses is aimed to the characterizaton of nanostructures by scanning near-field optical microscopy (SNOM). There is a presentation of physical principles of SNOM and the description of the experimental set-up of the microscopy. The experimental part discusses the results of determination of transmission coefficient and characterizaton of the lithography structures prepared by focused ion beam etching method.