|
|
Definition of Parameters for Image Deconvolution from Electron Microscope
Typovský, Viktor ; Walek, Petr (referee) ; Potočňák, Tomáš (advisor)
Tato diplomová práce se zabývá modelováním bodové rozptylové funkce (point spread function, PSF) u skenovacího transmisního elektronového mikroskopu (STEM). Nejprve je provedena teoretická rešerše, kde jsou popsány všechny důležitě aspekty, potřebné k následnému modelování. Je tedy proveden základní popis konstrukce přístroje a určeny jeho klíčové komponenty, které mají hlavní vliv na tvar výsledné PSF. Následně jsou popsány hlavní zobrazovací vady, které ovlivňují výslednou PSF. Ty jsou popsány z hlediska vlnové optiky. Na základě toho je pak navržen a zrealizován poměrně přesný model PSF u mikroskopu STEM. Poté je vytvořeno GUI, které umožňuje plné využití daného vytvořeného modelu. Na závěr je získaný model otestován na modelových a reálných datech, pomocí metody Lucy-Richardson.
|
|
|
Design of manipulator for TEM
Melichárek, Václav ; Doležel, Pavel (referee) ; Mach, Jindřich (advisor)
The topic of this master’s thesis is the design of a sample manipulator for TEM. Regarding which the segment of the sample manipulator used to move the sample in the direction of the x-axis (so-called x-stage) was designed. The introductory theoretical part is concerned with a brief description of transmission electron microscopy focused on the imaging methods used in TEM and the procedures of preparing and loading TEM samples. The theoretical part follows with the design of precise mechanisms, especially with respect to the inaccuracies of their operation and the technological aspect of the design. In the practical part, a detailed analysis of the design of the x-stage is presented. Kinematics and dynamics of the mechanism is analyzed in depth, following with the description of the overall design of the mechanism and some of its parts in detail.
|
|
|
Design of manipulator for TEM
Melichárek, Václav ; Doležel, Pavel (referee) ; Mach, Jindřich (advisor)
The topic of this master’s thesis is the design of a sample manipulator for TEM. Regarding which the segment of the sample manipulator used to move the sample in the direction of the x-axis (so-called x-stage) was designed. The introductory theoretical part is concerned with a brief description of transmission electron microscopy focused on the imaging methods used in TEM and the procedures of preparing and loading TEM samples. The theoretical part follows with the design of precise mechanisms, especially with respect to the inaccuracies of their operation and the technological aspect of the design. In the practical part, a detailed analysis of the design of the x-stage is presented. Kinematics and dynamics of the mechanism is analyzed in depth, following with the description of the overall design of the mechanism and some of its parts in detail.
|
|
|
Definition of Parameters for Image Deconvolution from Electron Microscope
Typovský, Viktor ; Walek, Petr (referee) ; Potočňák, Tomáš (advisor)
Tato diplomová práce se zabývá modelováním bodové rozptylové funkce (point spread function, PSF) u skenovacího transmisního elektronového mikroskopu (STEM). Nejprve je provedena teoretická rešerše, kde jsou popsány všechny důležitě aspekty, potřebné k následnému modelování. Je tedy proveden základní popis konstrukce přístroje a určeny jeho klíčové komponenty, které mají hlavní vliv na tvar výsledné PSF. Následně jsou popsány hlavní zobrazovací vady, které ovlivňují výslednou PSF. Ty jsou popsány z hlediska vlnové optiky. Na základě toho je pak navržen a zrealizován poměrně přesný model PSF u mikroskopu STEM. Poté je vytvořeno GUI, které umožňuje plné využití daného vytvořeného modelu. Na závěr je získaný model otestován na modelových a reálných datech, pomocí metody Lucy-Richardson.
|
guest ::
