keywords:"near-field" - Search Results - Digital Repository

guest :: login Digital Repository
		Search		Submit		Help		About

Home > Search Results: keywords:"near-field"

Search:

Search Tips :: Advanced Search

Search collections:

Sort by:	Display results:	Output format:

	Characterization of nanostructures by the near-field optical microscopy (SNOM) Pagáčová, Lenka ; Kalousek, Radek (referee) ; Škoda, David (advisor) The bachelor theses is aimed to the characterizaton of nanostructures by scanning near-field optical microscopy (SNOM). There is a presentation of physical principles of SNOM and the description of the experimental set-up of the microscopy. The experimental part discusses the results of determination of transmission coefficient and characterizaton of the lithography structures prepared by focused ion beam etching method. Detailed record
	Near-field excited photoluminescence mapping Klok, Pavel ; Ledinský, Martin (referee) ; Dvořák, Petr (advisor) Tato práce se zabývá mapováním fotoluminiscence (PL) pomocí buzení blízkého pole (NF), které slouží ke zkoumání optoelektronických vlastností v nanometrovém měřítku. Díky překonání omezení tradičních optických technik v dalekém poli zkoumá jevy na menších rozměrech, které by jinak byly nedostupné. Hlavní důraz je kladen na NF rastrovací optickou mikroskopii, která umožňuje pozorování poddifrakčních jevů u studovaných vzorků. Významným přínosem této práce je zavedení časově rozlišitelného mapování PL v NF, tedy průlomové metody pro studium dynamických procesů pod hranicí difrakce. Tento přístup představuje nový přínos pro tento obor, což potvrzuje i přehled literatury uvedený v této práci. Díky pečlivému vyhodnocení a interpretaci měření PL tato práce rozšiřuje naše znalosti o optických vlastnostech olovnatých halogenidových perovskitů a jejich potenciálních aplikacích např. pro solární články. Dále odhaluje dosud neprozkoumané možnosti v oblasti časově rozlišitelného mapování PL v NF a poskytuje dosud nevídaný náhled do dynamických procesů pod difrakčním limitem. Posunutím hranic optického výzkumu na úrovni nanorozměrů vytváří tato diplomová práce základ pro nové směry zkoumání v této oblasti. Detailed record
	Characterization of nanostructures by the near-field optical microscopy (SNOM) Pagáčová, Lenka ; Kalousek, Radek (referee) ; Škoda, David (advisor) The bachelor theses is aimed to the characterizaton of nanostructures by scanning near-field optical microscopy (SNOM). There is a presentation of physical principles of SNOM and the description of the experimental set-up of the microscopy. The experimental part discusses the results of determination of transmission coefficient and characterizaton of the lithography structures prepared by focused ion beam etching method. Detailed record

Interested in being notified about new results for this query?
Subscribe to the RSS feed.

Digital Repository :: :: :: ::
Powered by v1.1.2
Maintained by

This site is also available in the following languages:
Česky English