|
|
Simulation of dielectric materials absorption characteristics
Bačkovský, Pavel ; Novák, Vítězslav (referee) ; Křivík, Petr (advisor)
This projects deal with dielectric materials. Characterize definition of dielectric and polarization of dielectric. Shows dielectric relaxation. Specified conception dielectric absorption and interpreted them with DC voltage charging condensator. However, this thesis be engaged in simulation of this process. Output is simulation program of dielectric absorption characteristics for two relaxation mechanism.
|
|
|
Study of dielectric relaxation in PCB substrates and cable insulation
Ježík, Jan ; Brzobohatý, Jaromír (referee) ; Běťák, Petr (advisor)
This study investigates relaxation polarization in some dielectric components of tester UNISPOT S40 developed by company UNITES Systems a.s. Relaxation polarization in the PCB substrates and in tester’s cable insulation causes undesirable deceleration of some test steps. Relaxation polarization in selected PCB substrates and various cables are examined by method of dielectric relaxation spectroscopy in the frequency domain and by measurement of polarization or depolarization current.
|
|
|
Dielectric Properties of Thin Tantalum and Niobium Oxide Layers
Abuetwirat, Inas Faisel ; Chobola, Zdeněk (referee) ; Lelák, Jaroslav (referee) ; Liedermann, Karel (advisor)
Dielektrická relaxační spektroskopie je jednou z užitečných metod pro studium molekulární dynamiky materiálů. Díky nedávnému pokroku v přístrojové a měřicí technice je dnes možné získat dielektrické spektrum v širokém frekvenčním intervalu a pro velice rozdílné materiály. Cílem mé práce bylo studium dielektrických relaxačních spekter a vodivosti oxidů titanu, niobu, tantalu, lanthanu a hafnia pro katody pracující na principu studené emise. Cílem výzkumu bylo analyzovat frekvenční a teplotní chování těchto oxidů, včetně jejich vodivosti, v širokém frekvenčním a teplotním rozsahu, a pokusit se stanovit původ relaxačního mechanismu. Vzhledem k tomu, že původně zadaný rozsah oxidů byl dosti široký, soustředila se pozornost pouze na oxidy tantalu a niobu, rovněž s ohledem na jejich aplikace v elektrolytických kondenzátorech. Elektrické, tepelné a mechanické (při zpracování) vlastnosti oxidů tantalu a niobu jsou dnes již dobře prozkoumány. K dispozici je však jen málo poznatků o jejich dielektrických relaxačních mechanismech. Výsledky získané pro Ta2O5 ukazují existence relaxačního maxima, nacházejícího se v experimentálně dostupném teplotním a frekvenčním intervalu 187 K – 385 K a 1 Hz – 10 MHz. Frekvence ztrátového maxima se řídí Arrheniovým zákonem s aktivační energií 0.048 eV. Ve vodivostních spektrech vykazují tenké vrstvy Ta2O5 na nízkých frekvencích ustálenou hodnotu a při vysokých frekvencích monotónní nárůst, který závisí na teplotě. Pozorovanou vodivost lze popsat mocninnou funkcí s exponentem nepatrně větším než jedna (tzv. superlineární závislost). Výsledky získané pro Nb2O5 v podobné teplotní a frekvenční oblasti, 218 K – 373 K, 1 Hz – 1 MHz rovněž ukazují jedno relaxační maximum. Frekvence ztrátového maxima se opět řídí Arrheniovým zákonem s poněkud vyšší aktivační energií 0.055 eV. Niobové kondenzátory vykazují vodivostní mechanismus shodný s kondenzátory tantalovými.
|
|
|
Study of the factors that influence setting time during current measurement.
Ježík, Jan ; Macháň, Ladislav (referee) ; Běťák, Petr (advisor)
This study is engaged in the effect of dielectric relaxation on very small direct current setting time after applying voltage of 600 V. Several relaxation phenomenons in dielectric materials stressed by electric field are discussed. Characteristics of three substrates of PCBs are evaluated by using time and frequency domain dielectric relaxation spectroscopy in order to find an optimal material for high speed tester UNISPOT S40 ACCEL construction.
|
|
|
Study Of Dielectric Behavior Of Polymers Using A Complex Electric Modulus
Horák, Luděk
The complex electric modulus is mathematically defined as the inverse value of thecomplex permittivity. It is particularly useful in evaluating the dielectric properties of polymericinsulating materials, especially at low frequencies and at high temperatures. Presented thesis isfocused on mathematical interpretation, practical example and evaluation of electrical module.In our case, the measurements are performed on a composite material based on epoxy resin.
|
|
|
Dielectric Properties of Thin Tantalum and Niobium Oxide Layers
Abuetwirat, Inas Faisel ; Chobola, Zdeněk (referee) ; Lelák, Jaroslav (referee) ; Liedermann, Karel (advisor)
Dielektrická relaxační spektroskopie je jednou z užitečných metod pro studium molekulární dynamiky materiálů. Díky nedávnému pokroku v přístrojové a měřicí technice je dnes možné získat dielektrické spektrum v širokém frekvenčním intervalu a pro velice rozdílné materiály. Cílem mé práce bylo studium dielektrických relaxačních spekter a vodivosti oxidů titanu, niobu, tantalu, lanthanu a hafnia pro katody pracující na principu studené emise. Cílem výzkumu bylo analyzovat frekvenční a teplotní chování těchto oxidů, včetně jejich vodivosti, v širokém frekvenčním a teplotním rozsahu, a pokusit se stanovit původ relaxačního mechanismu. Vzhledem k tomu, že původně zadaný rozsah oxidů byl dosti široký, soustředila se pozornost pouze na oxidy tantalu a niobu, rovněž s ohledem na jejich aplikace v elektrolytických kondenzátorech. Elektrické, tepelné a mechanické (při zpracování) vlastnosti oxidů tantalu a niobu jsou dnes již dobře prozkoumány. K dispozici je však jen málo poznatků o jejich dielektrických relaxačních mechanismech. Výsledky získané pro Ta2O5 ukazují existence relaxačního maxima, nacházejícího se v experimentálně dostupném teplotním a frekvenčním intervalu 187 K – 385 K a 1 Hz – 10 MHz. Frekvence ztrátového maxima se řídí Arrheniovým zákonem s aktivační energií 0.048 eV. Ve vodivostních spektrech vykazují tenké vrstvy Ta2O5 na nízkých frekvencích ustálenou hodnotu a při vysokých frekvencích monotónní nárůst, který závisí na teplotě. Pozorovanou vodivost lze popsat mocninnou funkcí s exponentem nepatrně větším než jedna (tzv. superlineární závislost). Výsledky získané pro Nb2O5 v podobné teplotní a frekvenční oblasti, 218 K – 373 K, 1 Hz – 1 MHz rovněž ukazují jedno relaxační maximum. Frekvence ztrátového maxima se opět řídí Arrheniovým zákonem s poněkud vyšší aktivační energií 0.055 eV. Niobové kondenzátory vykazují vodivostní mechanismus shodný s kondenzátory tantalovými.
|
|
|
Study of the factors that influence setting time during current measurement.
Ježík, Jan ; Macháň, Ladislav (referee) ; Běťák, Petr (advisor)
This study is engaged in the effect of dielectric relaxation on very small direct current setting time after applying voltage of 600 V. Several relaxation phenomenons in dielectric materials stressed by electric field are discussed. Characteristics of three substrates of PCBs are evaluated by using time and frequency domain dielectric relaxation spectroscopy in order to find an optimal material for high speed tester UNISPOT S40 ACCEL construction.
|
|
|
Study of dielectric relaxation in PCB substrates and cable insulation
Ježík, Jan ; Brzobohatý, Jaromír (referee) ; Běťák, Petr (advisor)
This study investigates relaxation polarization in some dielectric components of tester UNISPOT S40 developed by company UNITES Systems a.s. Relaxation polarization in the PCB substrates and in tester’s cable insulation causes undesirable deceleration of some test steps. Relaxation polarization in selected PCB substrates and various cables are examined by method of dielectric relaxation spectroscopy in the frequency domain and by measurement of polarization or depolarization current.
|
|
|
Simulation of dielectric materials absorption characteristics
Bačkovský, Pavel ; Novák, Vítězslav (referee) ; Křivík, Petr (advisor)
This projects deal with dielectric materials. Characterize definition of dielectric and polarization of dielectric. Shows dielectric relaxation. Specified conception dielectric absorption and interpreted them with DC voltage charging condensator. However, this thesis be engaged in simulation of this process. Output is simulation program of dielectric absorption characteristics for two relaxation mechanism.
|
guest ::
