National Repository of Grey Literature 3 records found  Search took 0.00 seconds. 
Single column multiple electron beam imaging
Podstránský, Jáchym ; Jánský, Pavel (referee) ; Zlámal, Jakub (advisor)
Tato práce je zaměřena na měření emise elektronů z více katod tvořených n-dopovaným křemíkem a zobrazování elektronových svazků fokusovaných čočkou typu einzel na kameru CMOS. Experimentální výsledky jsou porovnány s počítačovou simulací, aby bylo možné pochopit emisi elektronů z polovodičové katody a pozorované nedokonalosti zobrazení. Na závěr jsou navrženy úpravy experimentálního uspořádání, které by měly vést ke zlepšení extrakčního proudu a velikosti stop fokusovaných elektronových svazků a také k lepšímu pochopení procesů probíhajících v experimentu.
Trajektorie signálních elektronů v nízkonapěťovém BSE detektoru
Wandrol, Petr ; Autrata, Rudolf
Nowadays the development of the image formation in scanning electron microscope (SEM) is oriented to the use of scanning electron microscopes with low accelerating voltage of the primary beam (LV SEM). Secondary electrons (SEs) for topographical contrast observation and backscattered electrons (BSEs) for material contrast observation are the main components of the detected signal in LV SEM. While the secondary electrons can be detected either by Everhart-Thornley scintillation detector or by the "in lens" SE detector, the detection of backscattered electrons (BSEs) in LV SEM is an unsolved problem yet
Optická část mnohakanálového energiového analyzátoru elektronů
Čižmár, Petr
Our version of the multichannel energy analyzer consists of two main parts. At first it is an electron optical part, which separates the entering electrons by their energy. Then the electrons land onto a scintillating screen. Secondly there is the optical part, which should project the light signal on the scintillator onto a detecting CCD. There are several ways how to do this

Interested in being notified about new results for this query?
Subscribe to the RSS feed.