|
|
Measuring the thickness of contamination layers in scanning electron microscopy using image processing
Macek, Matěj ; Munzar, Milan (referee) ; Čadík, Martin (advisor)
Motivací pro vznik této práce byl cíl společnosti Thermo Fisher Scientific vyvinout metodu měření tloušťky kontaminačních vrstev na snímcích ze skenovací elektronové mikroskopie (SEM) pomocí pokročilých technik zpracování obrazu. Hlavním cílem je vytvořit automatizované metody pro kvantifikaci kontaminace v obrazech, které nepříznivě ovlivňují zobrazování ve výzkumu v oblasti materiálových věd, pomocí technik zpracování obrazu. V této studii shromažďujeme soubor dat snímků s kontaminací a ručně anotujeme masky pro každý snímek. Tyto anotace budou sloužit k doladění a vyhodnocení účinnosti námi navrhovaných metod. Použitím kombinace algoritmů detekce hran a modelů strojového učení, konkrétně vyladěné sítě DeepLabv3, tato práce zvyšuje přesnost a účinnost detekce kontaminace. Analyzátor kontaminace založený na detekci hran (EDCA) využívá tradiční metody zpracování obrazu, zatímco model DeepLabv3 zavádí přístup strojového učení, který robustně zvládá různorodé obrazové podmínky. Srovnávací analýzy prokazují účinnost těchto metod při poskytování spolehlivých, škálovatelných a podrobných měření kontaminačních vrstev, což významně přispívá k rozvoji oboru materiálových věd.
|
guest ::
