Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 2 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Měření a modelování skutečných impedančních výsledků v závislosti na poloze snímacích elektrod
Haňka, Jiří ; Maxa, Jiří (oponent) ; Novák, Vítězslav (vedoucí práce)
Obsah této práce je směřován na řešení problematiky měření impedančních charakteristik dielektrických materiálů, zejména keramik, za pomocí simulace připojení elektrod na mě- řený vzorek. V práci je popsáno měření impedancí se zaměřením na metodu impedanční spektroskopie. Cílem práce je seznámení s problematikou měření komplexní impedance a popsání parazitních jevů, vyskytujících se v materiálu. Dále jsou v práci popisovány současné možnosti simulací a simulačních softwarů jako je zejména ANSYS Maxwell. S využitím simulací tohoto softwaru jsou v práci řešeny impedanční charakteristiky vodivé keramiky a jejich závislost na poloze napájecích elektrod.
Měření a modelování skutečných impedančních výsledků v závislosti na poloze snímacích elektrod
Haňka, Jiří ; Maxa, Jiří (oponent) ; Novák, Vítězslav (vedoucí práce)
Obsah této práce je směřován na řešení problematiky měření impedančních charakteristik dielektrických materiálů, zejména keramik, za pomocí simulace připojení elektrod na mě- řený vzorek. V práci je popsáno měření impedancí se zaměřením na metodu impedanční spektroskopie. Cílem práce je seznámení s problematikou měření komplexní impedance a popsání parazitních jevů, vyskytujících se v materiálu. Dále jsou v práci popisovány současné možnosti simulací a simulačních softwarů jako je zejména ANSYS Maxwell. S využitím simulací tohoto softwaru jsou v práci řešeny impedanční charakteristiky vodivé keramiky a jejich závislost na poloze napájecích elektrod.

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.