Hlavní stránka > Výsledky hledání: keywords:"positioning system of semiconductor chip testing"
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 1 záznamů.  Hledání trvalo 0.01 vteřin. 
Optimization of the positioning system of semiconductor chip testing
 Kotian, Tomáš ; Jankovský, Jaroslav (oponent) ; Otáhal, Alexandr (vedoucí práce)
The goal of this diploma thesis was to gather theoretical information on the possibilities of chip testing and subsequently design and apply necessary changes for the semi automatic positioning system, which would ensure its ability to test chips with the use of probe cards. Semi automatic positioning system is a result of a bachelor thesis, which ensured the ability of the machine to provide testing with the use of a resistance system created on a thick layer. The practical part of this thesis is focused on providing an accurate testing of the machine’s parametres and designing and applying necessary changes for the mechanical part of the machine. Furthermore, the thesis also describes the design and creation of an application with automatic detection of a chip, which is used for controlling the machine. The last part of the thesis describes the testing of the machine, which was realized with the use of two different sized chips.
Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English