Hlavní stránka > Výsledky hledání: keywords:"non-diffracting beams"
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 2 záznamů.  Hledání trvalo 0.01 vteřin. 
Měření difuzně odrazných povrchů pomocí vírové topografické mikroskopie
 Pola, Tomáš ; Baránek,, Michal (oponent) ; Bouchal, Petr (vedoucí práce)
Diplomová práce popisuje novou metodu měření topografie difúzně odrazných povrchů. Zkoumaný povrch je měřen nepřímo pomocí lokalizace nanočástic na něm nanesených. Obraz každé z částic je na kameře zachycen v podobě dvoulalokové bodové rozptylové funkce, jejíž úhlové natočení odpovídá lokální výšce měřeného povrchu. Využívaná bodová rozptylová funkce vzniká interferencí nedifrakčních vírových svazků, které jsou vytvářeny při průchodu světla spirální fázovou maskou. Práce nejprve představuje rešerši současných technik pro měření topografie povrchu. Poté je princip navrhovaného topografického měření popsán teoreticky a jeho praktické použití je testováno v experimentálních podmínkách. Pomocí numerických simulací je studován vliv poměru signálu k šumu a vzorkování obrazu na přesnost rekonstrukce topografie povrchu. Na tomto základě jsou pak navrženy optimální parametry experimentální sestavy. Praktický potenciál metody je demonstrován měřením topografie rovinných a kulových difuzních povrchů v rozsahu hloubek až 9krát přesahujícím hloubku ostrosti měřícího objektivu.
Úplný záznam
Měření difuzně odrazných povrchů pomocí vírové topografické mikroskopie
 Pola, Tomáš ; Baránek,, Michal (oponent) ; Bouchal, Petr (vedoucí práce)
Diplomová práce popisuje novou metodu měření topografie difúzně odrazných povrchů. Zkoumaný povrch je měřen nepřímo pomocí lokalizace nanočástic na něm nanesených. Obraz každé z částic je na kameře zachycen v podobě dvoulalokové bodové rozptylové funkce, jejíž úhlové natočení odpovídá lokální výšce měřeného povrchu. Využívaná bodová rozptylová funkce vzniká interferencí nedifrakčních vírových svazků, které jsou vytvářeny při průchodu světla spirální fázovou maskou. Práce nejprve představuje rešerši současných technik pro měření topografie povrchu. Poté je princip navrhovaného topografického měření popsán teoreticky a jeho praktické použití je testováno v experimentálních podmínkách. Pomocí numerických simulací je studován vliv poměru signálu k šumu a vzorkování obrazu na přesnost rekonstrukce topografie povrchu. Na tomto základě jsou pak navrženy optimální parametry experimentální sestavy. Praktický potenciál metody je demonstrován měřením topografie rovinných a kulových difuzních povrchů v rozsahu hloubek až 9krát přesahujícím hloubku ostrosti měřícího objektivu.
Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English