|
|
Měření vlastností tenkých vrstev metodami zobrazovací reflektometrie a Kerrova jevu
Plšek, Radek ; Navrátil, Karel (oponent) ; Spousta, Jiří (vedoucí práce)
Tato diplomová práce je rozdělena do tří hlavních částí, které se zabývají optickými a magnetickými vlastnostmi tenkých vrstev a způsoby jejich měření. Princip spektroskopické reflektometrie a měření optických vlastností tenkých vrstev tvoří náplň první části. Stěžejní jsou pak výsledky zobrazovací reflektometrie, kterou sledujeme in situ změnu optických vlastností tenké vrstvy SiO2 v průběhu jejího leptání na ploše cca 10 × 13 mm2. Druhá část je věnována magnetickým vlastnostem tenkých vrstev a popisu úprav měřicího zařízení na ÚFI FSI VUT v Brně. Magnetické vlastnosti jsou sledovány pomocí longitudinálního magnetooptického Kerrova jevu, kdy při odrazu polarizovaného světla na magnetickém materiálu dojde ke stočení roviny jeho polarizace. Měřicí sestava byla rozšířena o mikroskopový objektiv, abychom docílili fokusace laserového svazku do co nejmenší stopy. Tím dostáváme informaci o lokálních magnetických vlastnostech tenké vrstvy a jsme schopni tyto vlastnosti měřit i u magnetických mikrostruktur. Závěrečná část byla vypracována v rámci studijní stáže Erasmus. Zabývá se optimalizací trojvrstvy spinového ventilu Co/Cu/NiFe. Cílem bylo dosáhnout co nejvyšší změny elektrického odporu v závislosti na vzájemné orientaci vektorů magnetizace. Tento jev je nazýván Giant Magnetoresistance (GMR) a lze jej pozorovat u magnetických multivrstev.
|
|
|
Dynamic control of magnetization for spintronic applications studied by magneto-optical methods
Zahradník, Martin ; Veis, Martin (vedoucí práce) ; Herranz, Gervasi (oponent) ; Legut, Dominik (oponent)
V této práci byly systematicky studovány dva mechanismy, jež hrají důležitou roli v přípravě tenkých vrstev magnetických oxidů. Prvním z nich byl vliv epitaxního pnutí na výsledné magnetooptické vlastnosti tenkých vrstev La2/3Sr1/3MnO3 (LSMO). Studované vrstvy byly vyrobeny pulsní laserovou depozicí na čtyřech různých substrátech, což zajistilo širokou škálu indukovaného epitaxního pnutí. Bylo zjištěno, že magnetické vlastnosti se zhoršují s rostoucí hodnotou epitaxního pnutí, což bylo očekáváno kvůli narůstající deformaci základní buňky a kvůli efektu magneticky inertní vrstvy. Kombinace spektroskopické elipsometrie a magnetooptické Kerrovy spektroskopie byla použita k získání spekter diagonálních a nediagonálních členů tenzoru permitivity. Spektra nediagonálních členů potvrdila u všech vzorků přítomnost dvou dříve pozorovaných elektronových přechodů. Navíc byl nalezen ještě další elektronový přechod kolem 4.3 eV, a to pouze ve spektrech vzorků s tlakovým pnutím. Byla navržena klasifikace tohoto přechodu jako paramagnetického přechodu krystalového pole Mn t2g → eg, což bylo dále podpořeno i výpočty z prvních principů. Byla tak demonstrována klíčová role pnutí v ovládání elektronové struktury tenkých vrstev perovskitů. Dynamickou aplikací pnutí pomocí piezoelektrické mezivrstvy nebylo dosaženo...
|
|
|
Physics of interfaces in magnetic nano structures
Ohnoutek, Lukáš ; Veis, Martin (vedoucí práce) ; Urbánek, Michal (oponent)
Vlastnosti nanostruktur mohou být silně ovlivněny změnami jejich rozhraní. Díky své hloubkové citlivosti a bezkontaktnímu měření jsou magnetooptická spektroskopie a spektroskopická elipsometrie ideální ke studiu takových jevů. Dvě metody nevratné modifikace magnetických vlastností, a to zejména magnetické anizotropie, jsou zkoumány v této práci. Změřené spektrální závislosti magnetooptického Kerrova jevu jsou porovnány s teoretickými výpočty za účelem určení profilů vzorků pro různé úrovně a různé metody modifikace. Dále jsou provedena elipsometrická měření na zařízení, jehož optické vlastnosti je možno měnit přikládáním elektrického napětí.
|
|
|
Měření vlastností tenkých vrstev metodami zobrazovací reflektometrie a Kerrova jevu
Plšek, Radek ; Navrátil, Karel (oponent) ; Spousta, Jiří (vedoucí práce)
Tato diplomová práce je rozdělena do tří hlavních částí, které se zabývají optickými a magnetickými vlastnostmi tenkých vrstev a způsoby jejich měření. Princip spektroskopické reflektometrie a měření optických vlastností tenkých vrstev tvoří náplň první části. Stěžejní jsou pak výsledky zobrazovací reflektometrie, kterou sledujeme in situ změnu optických vlastností tenké vrstvy SiO2 v průběhu jejího leptání na ploše cca 10 × 13 mm2. Druhá část je věnována magnetickým vlastnostem tenkých vrstev a popisu úprav měřicího zařízení na ÚFI FSI VUT v Brně. Magnetické vlastnosti jsou sledovány pomocí longitudinálního magnetooptického Kerrova jevu, kdy při odrazu polarizovaného světla na magnetickém materiálu dojde ke stočení roviny jeho polarizace. Měřicí sestava byla rozšířena o mikroskopový objektiv, abychom docílili fokusace laserového svazku do co nejmenší stopy. Tím dostáváme informaci o lokálních magnetických vlastnostech tenké vrstvy a jsme schopni tyto vlastnosti měřit i u magnetických mikrostruktur. Závěrečná část byla vypracována v rámci studijní stáže Erasmus. Zabývá se optimalizací trojvrstvy spinového ventilu Co/Cu/NiFe. Cílem bylo dosáhnout co nejvyšší změny elektrického odporu v závislosti na vzájemné orientaci vektorů magnetizace. Tento jev je nazýván Giant Magnetoresistance (GMR) a lze jej pozorovat u magnetických multivrstev.
|
host ::
RSS.