Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 1 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Prvky s podélnými fotonickými strukturami v optických vláknech
Urban, František ; Róka,, Rastislav (oponent) ; Slavíček, Karel (oponent) ; Smékal, Zdeněk (vedoucí práce)
Cílem práce je analyzovat možnosti využítí specifické metody přípravy podélných vláknových kvaziperiodických struktur typu Braggových mřížek, k návrhu a přípravě optovláknových difrakčních prvků pro senzoriku. Ohniskem práce se staly apodizované Braggovy mřížky a metoda jejich návrhu a přípravy založená na vzájemném překrytí dvou i více mírně se lišících uniformních struktur. První část práce shrnuje teoretické poznatky o Braggových mřížkách a prezentuje rozbor základních typů mřížek a jejich významných vlastností. Dále se práce zabývá významnými aspekty použití mřížek v senzorice, analyzuje způsoby vyhodnocování účinků měřených veličin na mřížky. Ukazuje cesty optimalizace přesnosti měření ovlivněné šumy z hlediska vlastností mřížek i postupů vyhodnocování. V kapitole 4. práce ukazuje význam a vlastnosti apodizace mřížek. Stěžejní kapitola 5. rozšiřuje a zobecňuje použití metody Moaré pro přípravu apodizovaných mřížek. Jsou představeny principy a vytvořen matematický popis zobecněné metody Moaré překryvu více nestejných uniformních mřížkových struktur, který je zaměřen na implementaci metody do technického systému přípravy mřížek systémem bočního osvitu vlákna přes společnou fázovou masku s napínáním a posuvy vlákna při expozicích jednotlivých submřížek struktury. Princip metody je aplikován do optimalizací návrhů devíti zvláštních mřížkových struktur s dvěma a třemi submřížkami pro dosažení specifických parametrů výhodných pro senzorické aplikace. Kapitola 6. prezentuje kroky přípravy expozičního zařízení k rozvinutí expozice mřížek zobecněnou Moaré metodou a uvádí výsledky experimentálních prací při realizaci navržených apodizovaných dvoj a trojmřížkových struktur. Jsou prezentovány optimalizované struktury pro vysoký odstup postranních maxim, struktury s ostrým spektrálním poklesem odrazivosti v hlavním maximu a struktury s plochým temenem maxima odrazivosti.

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.