Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 3 záznamů.  Hledání trvalo 0.01 vteřin. 
Měření a modelování skutečných impedančních výsledků v závislosti na poloze snímacích elektrod
Haňka, Jiří ; Maxa, Jiří (oponent) ; Novák, Vítězslav (vedoucí práce)
Obsah této práce je směřován na řešení problematiky měření impedančních charakteristik dielektrických materiálů, zejména keramik, za pomocí simulace připojení elektrod na mě- řený vzorek. V práci je popsáno měření impedancí se zaměřením na metodu impedanční spektroskopie. Cílem práce je seznámení s problematikou měření komplexní impedance a popsání parazitních jevů, vyskytujících se v materiálu. Dále jsou v práci popisovány současné možnosti simulací a simulačních softwarů jako je zejména ANSYS Maxwell. S využitím simulací tohoto softwaru jsou v práci řešeny impedanční charakteristiky vodivé keramiky a jejich závislost na poloze napájecích elektrod.
Měření a modelování skutečných impedančních výsledků v závislosti na poloze snímacích elektrod
Haňka, Jiří ; Maxa, Jiří (oponent) ; Novák, Vítězslav (vedoucí práce)
Obsah této práce je směřován na řešení problematiky měření impedančních charakteristik dielektrických materiálů, zejména keramik, za pomocí simulace připojení elektrod na mě- řený vzorek. V práci je popsáno měření impedancí se zaměřením na metodu impedanční spektroskopie. Cílem práce je seznámení s problematikou měření komplexní impedance a popsání parazitních jevů, vyskytujících se v materiálu. Dále jsou v práci popisovány současné možnosti simulací a simulačních softwarů jako je zejména ANSYS Maxwell. S využitím simulací tohoto softwaru jsou v práci řešeny impedanční charakteristiky vodivé keramiky a jejich závislost na poloze napájecích elektrod.
A New Approach to the Solution of Thin Walled Structures
Kolář, P. ; Kubák, J. ; Vavřík, Daniel
A paper describes a new approach in the finite element analysis FEA for big thin wall structures. This structures could be very effectively solved using quadratic solid TETRA 10 elements and special fast finiteelement FFE technology by COSMOS/M system.

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.