Hlavní stránka > Výsledky hledání: keywords:"elecvtron microscopy"
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 1 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Very low energy STEM/TOF system
 Daniel, Benjamin ; Radlička, Tomáš ; Piňos, Jakub ; Frank, Luděk ; Müllerová, Ilona
Scanning low energy electron microscopes (SLEEMs) have been built at ISI for over 20 years, either by modification of commercially available SEMs with a cathode lens or completely self-built in case of a dedicated ultra-high vacuum scanning low energy electron microscope (UHV SLEEM). Recently, the range of detection methods has been extended\nby a detector for electrons transmitted through ultrathin films and 2D crystals like graphene. For a better understanding of interaction between low energy electrons and solids in general, and the image contrast mechanism in particular, it was considered useful to measure the energy of transmitted electrons. This allows a better comparison with simulations, which suffer from increasing complexity due to a stronger interaction of electrons with the density of states at low energies.
Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English