Hlavní stránka > Výsledky hledání: keywords:"electron optical computations"
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 2 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Fully electrostatic low energy scanning electron column
 Romanovský, V. ; El-Gomati, M. ; Frank, Luděk ; Müllerová, Ilona
The exploitation of low-energy electrons for examination of the material surfaces has several advantages. One of them is a small depth penetration of the primary electrons (PE) to the observed material. At low energies the charging effects on non-conductive or slightly conductive specimens are suppressed and also radiation damage of the observed specimen is decreased. Since the secondary electron (SE) yield is high, the signal to noise ratio (SNR) is about one order of magnitude larger than those in microscopes operated at 20kV.
Úplný záznam
Accuracy of potential computations with FOFEM
 Lencová, Bohumila
The first order finite element method (FOFEM) is often used for electron optical computations because of its ability to handle local dependence of material properties and complicated geometry of the electron optical elements. We use a topologically regular mesh based on irregular quadrilaterals. In order to avoid local computation error, we prefer to use meshes with a smoothly graded mesh step.
Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English