Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 6 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Vysokofrekvenční měřič výkonu
Hlaváč, Štěpán ; Jedlička,, Petr (oponent) ; Drexler, Petr (vedoucí práce)
Tento projekt popisuje různé principy měření výkonu elektromagnetických vln ve volném prostoru a na vedení. Pro každou metodu jsou uvedeny používané senzory a jejich reálné parametry. Je zde proveden rozbor ochran vysokofrekvenčních vstupů měřících přístrojů. Je zde vybrána nejvhodnější metoda a ochrany vstupu pro realizaci. Je zde proveden rozbor návrhu sekundární ochrany vysokofrekvenčního vstupu. Ochrana vstupu je realizována a změřena. Je vybrána vhodná metoda měření a senzor pro měření výkonu. Je zde navrhnuto blokové a obvodové schéma měřiče výkonu. Podle navrhnuté koncepce je realizován měřicí přístroj pro měření výkonu. Během realizace jsou měřeny jeho dílčí vlastnosti. V závěrečné části je změřena jeho přesnost a provedeno zhodnocení výsledků.
Širokopásmová vektorová měření
Dvořák, Radek ; Schejbal, Vladimír (oponent) ; Dražan, Libor (oponent) ; Urbanec, Tomáš (vedoucí práce)
Práce pojednává o návrhu a konstrukci vektorového měřícího systému pro měření impedance v širokém kmitočtovém pásmu založeném na principu tzv. šestibranu. Jsou rozebrány předpoklady pro přesné měření, metody linearizace, hlavně pak kalibrace a zpracování mezivýsledků. Je zde popsána kalibrační metoda vhodná speciálně pro širokopásmové systémy. Jsou zde porovnány některé metody pro zpracování mezivýsledků.
Absorpční měření nanočástic v IR oblasti
Peprníčková, Anna ; Walek, Petr (oponent) ; Sekora, Jiří (vedoucí práce)
Tato diplomová práce je zaměřena na absorpční měření nanočástic v infračervené oblasti. V práci je provedena literární rešerše v oblasti snímacích prvků v IR oblasti, návrh prin- cipu detektoru řízeného mikrokontrolérem pro měření absorpčních vlastností roztoků nanočástic a mikročástic v IR oblasti pomocí diodového detektoru a banky optických fil- trů. Spolu s návrhem tohoto zařízení byl vybrán mikrokontrolér a zobrazovací jednotka. Práce obsahuje také programu pro řízení mikrokontroléru a zobrazovací jednotky.
Širokopásmová vektorová měření
Dvořák, Radek ; Schejbal, Vladimír (oponent) ; Dražan, Libor (oponent) ; Urbanec, Tomáš (vedoucí práce)
Práce pojednává o návrhu a konstrukci vektorového měřícího systému pro měření impedance v širokém kmitočtovém pásmu založeném na principu tzv. šestibranu. Jsou rozebrány předpoklady pro přesné měření, metody linearizace, hlavně pak kalibrace a zpracování mezivýsledků. Je zde popsána kalibrační metoda vhodná speciálně pro širokopásmové systémy. Jsou zde porovnány některé metody pro zpracování mezivýsledků.
Vysokofrekvenční měřič výkonu
Hlaváč, Štěpán ; Jedlička,, Petr (oponent) ; Drexler, Petr (vedoucí práce)
Tento projekt popisuje různé principy měření výkonu elektromagnetických vln ve volném prostoru a na vedení. Pro každou metodu jsou uvedeny používané senzory a jejich reálné parametry. Je zde proveden rozbor ochran vysokofrekvenčních vstupů měřících přístrojů. Je zde vybrána nejvhodnější metoda a ochrany vstupu pro realizaci. Je zde proveden rozbor návrhu sekundární ochrany vysokofrekvenčního vstupu. Ochrana vstupu je realizována a změřena. Je vybrána vhodná metoda měření a senzor pro měření výkonu. Je zde navrhnuto blokové a obvodové schéma měřiče výkonu. Podle navrhnuté koncepce je realizován měřicí přístroj pro měření výkonu. Během realizace jsou měřeny jeho dílčí vlastnosti. V závěrečné části je změřena jeho přesnost a provedeno zhodnocení výsledků.
Absorpční měření nanočástic v IR oblasti
Peprníčková, Anna ; Walek, Petr (oponent) ; Sekora, Jiří (vedoucí práce)
Tato diplomová práce je zaměřena na absorpční měření nanočástic v infračervené oblasti. V práci je provedena literární rešerše v oblasti snímacích prvků v IR oblasti, návrh prin- cipu detektoru řízeného mikrokontrolérem pro měření absorpčních vlastností roztoků nanočástic a mikročástic v IR oblasti pomocí diodového detektoru a banky optických fil- trů. Spolu s návrhem tohoto zařízení byl vybrán mikrokontrolér a zobrazovací jednotka. Práce obsahuje také programu pro řízení mikrokontroléru a zobrazovací jednotky.

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.