Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 3 záznamů.  Hledání trvalo 0.01 vteřin. 
Single column multiple electron beam imaging
Podstránský, Jáchym ; Jánský, Pavel (oponent) ; Zlámal, Jakub (vedoucí práce)
This work is aimed at measuring the electron emission from multiple cathodes formed by n-doped silicon and imaging the electron beams focused by an einzel lens on a CMOS camera. The experimental results are compared with computer simulation to understand the electron emission from the semiconductor cathode and the observed imaging imperfections. Finally, modifications to the experimental setup are suggested that should lead to improvement in the extraction current and spot size of focused electron beams and also better understanding of the processes taking place in the experiment.
Trajektorie signálních elektronů v nízkonapěťovém BSE detektoru
Wandrol, Petr ; Autrata, Rudolf
Současný vývoj v rastrovací elektronové mikroskopii je orientován na používání nízkého napětí urychlujícího svazek primárních elektronů (LV SEM). Sekundární elektrony (SE) pro pozorování topografického kontrastu, a zpětně odražené elektrony (BSE), pro pozorování materiálového kontrastu, jsou hlavní složky detekovaného signálu v LV SEM. Zatímco SE mohou být detekovány Everhart-Thornley scintillation detector nebo in-lens detektorem, detekce BSE v LV SEM je dosud nevyřešený problém
Optická část mnohakanálového energiového analyzátoru elektronů
Čižmár, Petr
Nový mnohakanálový energiový analyzátor sestává ze dvou základních částí. Elektronově optická část separuje vstupující elektrony podle energií, následně elektrony dopadají na scintilační stínítko. Dále optická část promítá světelný signál na detekční CCD; existuje zde několik možností provedení

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.