Hlavní stránka > Výsledky hledání: keywords:"Auger electrons"
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 2 záznamů.  Hledání trvalo 0.01 vteřin. 
Fyzikální principy transmisní a skenovací elektronové mikroskopie
 BÍLÝ, Tomáš
Tato bakalářská práce je zaměřena na popis transmisní a skenovací elektronové mikroskopie. Jsou zde popsány fyzikální principy uplatňující se při tvorbě obrazu v elektronových mikroskopech, jednotlivé vady, jakož i metodika seřízení. Se zřetelem na výuku jsou blíže rozebrány základní části elektronových mikroskopů. Praktické provedení je ukázáno na mikroskopech JEOL: JEM{--}1010, JSM{--}7401F, JDM{--}6300.
Úplný záznam
Auger electron spectro-microscopy
 Hrnčiřík, Petr
The short escape depth of Auger electrons, the high lateral resolution, the chemical information about superficial elemental composition and the possibility of measuring the indepth distribution of elements (with utilisation of the ion sputtering) are the main advantages of the Auger electron spectroscopy (AES). When combined with the scanning electron miscroscope, AES can provide with image signal suitable for spectro-micrographs showing distribution of elements over the surface, i.e. the chemical mapping. This mapping can be advantageously compared with other SEM image signals in order to faciliate their interpretation.
Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English