Hlavní stránka > Výsledky hledání: keywords:"AFM|mikroskopie atomárních sil|nanočástice|mikro-spektroskopie|luminiscence"
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 1 záznamů.  Hledání trvalo 0.04 vteřin. 
Korelace AFM a mikro-spektroskopie aplikovaná na soubor nanočástic
 Doležal, Pavel ; Fučíková, Anna (vedoucí práce) ; Kopecký, Vladimír (oponent)
Tato práce se zabývá dvěma velmi moderními metodami používanými pro zkoumání světa v menším než mikro měřítku. První z nich je tzv. AFM (mikroskopie atomárních sil), používaná pro měření topologie vzorku až na atomární úrovni. Druhou je mikro-spektroskopie používaná pro zkoumání charakteru emisních spekter nanočástic. Cílem této práce je spojit obě tyto metody tak, aby bylo možné detailně proměřit velikost a tvar nanočástic a současně zkoumat jejich emisní spektrum. V první části práce podrobně představuji obě metody, čtenáři předkládám jejich principy, výhody a použití. V druhé části popisuji provedená přípravná měření - jako je délková a směrová kalibrace kamer měřící soustavy a výběr vhodné podložky pod vzorek. V závěru druhé části odvozuji a poté předkládám mnou navržený postup. Postup sestává z 20 kroků a s jeho využitím bude možné podrobněji studovat luminiscenční záření pocházejících z nanometrových zdrojů, především zkoumat jeho závislost na tvaru a velikosti nanočástice. Velmi slibnou jé také možnost měřit vliv vzdálenosti dvou nanočástic na jejich emisní spektra.
Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English