|
P3-TOP-TN-15001 Achievable microroughness of ASPIICS optical glass elements
Bartoníček, Jiří ; Budasz, Jiří ; Hadincová, Ivana ; Horodyská, Petra ; Kaucká, Iva ; Kovačičinová, Jana ; Lédl, Vít ; Melich, Radek ; Pleštil, Jan ; Poláková, Ivana ; Procháska, František ; Psota, Pavel ; Rail, Zdeněk ; Šípová, Gabriela ; Šrajer, Bohdan ; Ulrichová, Iva ; Václavík, Jan ; Vápenka, David ; Vít, Tomáš
The scope of this document is describe a test that investigates an achievable micro-roughness realized on different types of optical glasses [R1] that are planned to be employed for realization of PROBA3 coronagraph telescope. The test is realized with respect to the technological manufacturing possibilities of optical elements at TOPTEC facility.
|
| |
|
Studie: Svěšování vřetene
Pintr, Pavel ; Psota, Pavel ; Václavík, Jan
Studie shrnuje analýzu možných řešení měření svěšení vřetene horizontálního obráběcího stroje při zatížení nástrojem. Analyzovány byly optické metody využívající deflexe laserového svazku a analýzy stopy svazku na stínítku dvojice kamer. Byla též analyzována autokolimační metoda. Součástí studie jsou i oprické simulace situace provedené v prostředí Zemax a matematické výpočty deflexe, pohybu stopy a odhadované citlivosti.
|
|
Design, manufacture and test of M1 and M2 mirror production
Lédl, Vít ; Melich, Radek ; Pintr, Pavel ; Polák, Jaroslav ; Procháska, František ; Psota, Pavel ; Rail, Zdeněk ; Steiger, Lukáš ; Tomka, David ; Václavík, Jan ; Vápenka, David ; Vít, Tomáš ; Bartoníček, Jiří
Design and tests for realization of M1 and M2 mirrors for METIS project.
|
|
Simulace optické soustavy depozičního monitoru
Doleček, Roman ; Pintr, Pavel ; Václavík, Jan
Zpráva popisuje výsledek modelování stávajícího vysílací a přijímací optické soustavy systému pro monitorování procesu vakuové depozice. Výsledek je diskutován s pozorovanými vlastnostmi systému, zejména chování pro různé vlnové délky a optická propustnost. Na základě analýzy je provedena matematická optimalizace nastavení komponent systému s cílem zlepšení výkonu a robustnosti.
|
| |
| |
|
Gallium Phosphide as a material for visible and infrared optics
Václavík, Jan ; Vápenka, David
Gallium phosphide is interesting material for optical system working in both visible and MWIR or LWIR spectral ranges. Number of a material available for these applications is limited. They are typically salts, fluorides or sulphides and usually exhibit unfavorable properties like brittleness; softness; solubility in water and small chemical resistance. Although GaP has do not offer best optical parameters excels over most other material in mechanical and chemical resistance. The article describes its most important characteristics and outlines some applications where GaP should prove useful
|
|
Photonometers for coating and sputtering machines
Oupický, Pavel ; Jareš, Daniel ; Václavík, Jan ; Vápenka, David
The concept of photonometers (alternative name of optical monitor of a vacuum deposition process)for coating and sputtering machines is based on photonometers produced by companies like SATIS or HV Dresden. Photometers were developed in the TOPTEC centre and its predecessor VOD (Optical Development Workshop of Institut of Plasma Physics AS CR) for more than 10 years. The article describes current status of the technology and ideas which will be incorporated in next development steps. Hardware and software used on coating machines B63D, VNA600 and sputtering machine UPM810 is presented.
|
|
Irregular surfaces - measurements and ZEMAX simulations
Melich, Radek ; Psota, Pavel ; Lédl, Vít ; Václavík, Jan
Surfaces produced on optical elements are loaded by dierent kinds of irregularities whose allowable amplitudes are prescribed by optical tolerances defined by an optical designer. An important feedback between realized and designed surfaces can be achieved using interferometry or profilometry measurements for instance. This article discusses dierent kinds of representation and visualization of those measurements in ZEMAX, enabling optical designer to evaluate an impact of the irregular surface on the optical system performance.
|