Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 86 záznamů.  začátekpředchozí71 - 80další  přejít na záznam: Hledání trvalo 0.01 vteřin. 
SMV-2014-08: Konstrukce, vývoj a depozice funkčních vzorků interferenčních filtrů
Pokorný, Pavel ; Oulehla, Jindřich
Vývoj různých druhů beam-splitterů/combinerů včetně antireflexních vrstev pro dopad světla 45 stupňů a depozice jejich funkčních vzorků.
SMV-2012-18: Vypracování a ověření metodiky fyzikální realizace optických tenkých vrstev
Pokorný, Pavel ; Oulehla, Jindřich
Posouzení a analýza spektrálních vlastností systému tenkých vrstev a výzkum a modelování možností realizace optických vrstev pro komponenty optických přístrojů splňujících zadané spektrální vlastnosti a následné ověření teoretických úvah depozicí vzorků metodou napařování elektronovým svazkem a ověření reprodukovatelnosti.
SMV-2012-17: Vypracování a ověření metodiky fyzikální realizace optických tenkých vrstev pro interferometry
Pokorný, Pavel ; Oulehla, Jindřich
Posouzení a analýza spektrálních vlastností systému tenkých vrstev a výzkum a modelování možností realizace optických vrstev pro komponenty interferometrických jednotek splňujících zadané spektrální vlastnosti a následné ověření teoretických úvah depozicí vzorků metodou napařování elektronovým svazkem a ověření reprodukovatelnosti.
SMV-2013-26: Vypracování a ověření metodiky fyzikální realizace optických tenkých vrstev
Pokorný, Pavel ; Oulehla, Jindřich
Posouzení a analýza spektrálních vlastností systému tenkých vrstev a výzkum a modelování možností realizace optických vrstev pro komponenty optických přístrojů splňujících zadané spektrální vlastnosti a následné ověření teoretických úvah depozicí vzorků metodou napařování elektronovým svazkem a ověření reprodukovatelnosti.
SMV-2013-25: Vypracování a ověření metodiky fyzikální realizace optických tenkých vrstev pro interferometry
Pokorný, Pavel ; Oulehla, Jindřich
Posouzení a analýza spektrálních vlastností systému tenkých vrstev a výzkum a modelování možností realizace optických vrstev pro komponenty interferometrických jednotek splňujících zadané spektrální vlastnosti a následné ověření teoretických úvah depozicí vzorků metodou napařování elektronovým svazkem a ověření reprodukovatelnosti.
SMV-2013-23: Vypracování a ověření metodiky fyzikální realizace optických tenkých vrstev metodou elektronového napařování
Pokorný, Pavel ; Oulehla, Jindřich
Posouzení a analýza spektrálních vlastností systému tenkých vrstev a výzkum a modelování možností realizace optických filtrů splňujících zadané spektrální vlastnosti a následné ověření teoretických úvah depozicí vzorků metodou napařování elektronovým svazkem a ověření reprodukovatelnosti.
SMV-2012-10: Vypracování a ověření metodiky fyzikální realizace optických tenkých vrstev metodou elektronového napařování
Pokorný, Pavel ; Oulehla, Jindřich
Posouzení a analýza spektrálních vlastností systému tenkých vrstev a výzkum a modelování možností realizace optických filtrů splňujících zadané spektrální vlastnosti a následné ověření teoretických úvah depozicí vzorků metodou napařování elektronovým svazkem a ověření reprodukovatelnosti.
SMV-2013-17: Vypracování a ověření metodiky fyzikální realizace optických tenkých vrstev
Pokorný, Pavel ; Oulehla, Jindřich
Posouzení a analýza spektrálních vlastností systému tenkých vrstev a výzkum a modelování možností realizace optických vrstev pro komponenty optických přístrojů splňujících zadané spektrální vlastnosti a následné ověření teoretických úvah depozicí vzorků metodou napařování elektronovým svazkem a ověření reprodukovatelnosti.
SMV-2013-02: Vypracování a ověření metodiky fyzikální realizace optických tenkých vrstev
Pokorný, Pavel ; Oulehla, Jindřich
Posouzení a analýza spektrálních vlastností systému tenkých vrstev a výzkum a modelování možností realizace optických vrstev pro komponenty optických přístrojů splňujících zadané spektrální vlastnosti a následné ověření teoretických úvah depozicí vzorků metodou napařování elektronovým svazkem a ověření reprodukovatelnosti.
Stanice pro LIDT testy optických komponentů při kryogenních teplotách
Oulehla, Jindřich
Na Ústavu přístrojové techniky jsme se začali zabývat přípravou vrstev, které mohou být použity na optických komponentech ve vysokovýkonových laserových zařízeních. V takovýchto zařízeních jsou instalovány diodami čerpané pevnolátkové pulsní lasery (DPSSL) vyžadující použití různých optických komponentů schopných odolat poměrně vysokým hodnotám plošné hustoty energie. Při provozu takovýchto laserů vzniká velké množství odpadního tepla a je tedy nutné použít kryogenní chlazení. Cílem naší snahy je zkompletování experimentální sestavy schopné testovat různé typy vzorků jak za pokojové, tak za kryogenní teploty. Pro tyto účely je v současné době kompletována experimentální sestava s vakuovou komorou, uvnitř které je umístěn testovaný vzorek a je tak chráněn před kontaminací. Jako zdroj laserového záření používáme Nd:YAG laser o vlnové délce 1064nm a maximální energii v pulsu cca 650mJ. Tyto experimenty jsou doplňkem k naší hlavní činnosti, jíž jsou návrh a výroba optických filtrů pomocí vakuového napařování interferenčních vrstev. Jsme schopni deponovat různé materiály v závislosti na aplikaci. Nejběžnější kombinací je TiO2/SiO2, dále používáme například Ta2O5, Al2O3, HfO2 a jiné. Aplikacemi jsou interferenční filtry pro viditelnou, blízkou UV a blízkou IR oblast světelného spektra. Jako příklady námi navrstvených filtrů lze uvést antireflexní vrstvy, barevné (dichroické) filtry, hradící a pásmové filtry, děliče světla, tepelné filtry, polarizátory, nepolarizující děliče, apod. Disponujeme zcela novou napařovací aparaturou od firmy Leybold Optics, která značně rozšířila naše stávající výrobní možnosti. Aparatura je vybavena dvěma elektronovými děly a dále pak iontovým zdrojem pro Plasma Ion Assisted Deposition. Díky této technologii jsme schopni deponovat například zrcadla s řízenou dispersí, monochromatické filtry nebo hradící filtry s velmi ostrou hranou.

Národní úložiště šedé literatury : Nalezeno 86 záznamů.   začátekpředchozí71 - 80další  přejít na záznam:
Viz též: podobná jména autorů
4 Oulehla, Jakub
5 Oulehla, Jan
4 Oulehla, Jiří
Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.