|
|
Příprava a charakterizace SNOM sond
Robešová, Magdaléna ; Rovenská, Katarína (oponent) ; Dvořák, Petr (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá precizní výrobou sond pro rastrovací optickou mikroskopii blízkého pole (SNOM) a jejich charakterizací. Jelikož SNOM sonda v průběhu měření ovlivňuje blízké elektromagnetické pole, je kvalita výroby těchto sond a jejich přesná charakterizace klíčovým prvkem umožňující správnou interpretaci naměřených výsledků. Tato bakalářská práce má za cíl provést rešeršní studii na téma SNOM, SNOM sondy a jejich příprava. Dále pak připravit a charakterizovat funkční SNOM sondy, které bude možno použít k optické detekci interference povrchových plazmonových polaritonů (SPP).
|
|
|
Phase imaging below the diffraction limit
Nečesal, Daniel ; Bouchal, Zdeněk (oponent) ; Dvořák, Petr (vedoucí práce)
This Master's thesis is focus on construction of phase imaging systems capable of studying both micro- and nano-sized objects. The first chapter lays the foundation of optics and nano-photonics. Then the interference of coherent waves and its practical application will be discussed for the use of breaking the diffraction limit and extracting information out of optical systems. First experimental setup discussed will be the Mach--Zehnder type in--line digital holographic microscope. We show a way to construct this device out of cheap materials and how to design its control software. Then the experimental results created using this device are presented. In the last chapter, we focus on how a SNOM holography can be implemented, how it was built, and how automation via software was utilized to reduce operator time waste. Finally, we will present experimental results obtained from our system.
|
|
|
Interakce mezi SNOM hrotem a blízkým elektromagnetickým polem
Krpenský, Jan ; Kvapil, Michal (oponent) ; Dvořák, Petr (vedoucí práce)
Vzájemná interakce mezi sondou pro rastrovací optickou mikroskopii v blízkém poli (SNOM) a blízkým elektromagnetickým polem je fundamentální problém, jehož řešení je nutnou podmínkou ke správné interpretaci experimentálních dat. Tato bakalářská práce si klade za cíl tento problém popsat rešeršní studií a pomocí precizní výroby vlastních SNOM sond napomoci k jeho vyřešení. K tomuto účelu je využíváno detekce rozložení blízkého pole generovaného interferencí povrchových plazmonových polaritonů (SPP) na čtvercových nanostrukturách. Touto studií byla prokázána citlivost SNOM sondy na jednotlivé komponenty blízkého pole v závislosti na velikosti SNOM apertury.
|
|
|
Nanofotonika
Dvořák, Petr ; Rezek, Bohuslav (oponent) ; PhD, Jakub Dostálek, (oponent) ; Šikola, Tomáš (vedoucí práce)
Tato disertační práce se zabývá experimentálním výzkumem interference povrchových plazmonových polaritonů (SPP) pomocí rastrovací optické mikroskopie v blízkém poli (SNOM). V první kapitole je vytvořen teoretický základ pro fyzikální popis většiny fyzikálních dějů a souvisejících závislostí, které jsou studovány. Mezi tyto závislosti patří: závislosti výsledného interferenčního obrazce SPP na homogenitě, polarizaci, vlnové délce a fázi budicího osvětlení, na geometrii interferenčních budicích struktur a na náklonu vzorku vůči budicímu osvětlení. Dále je zde navržena nová experimentální metoda, která umožňuje pomocí numerických simulací nebo pomocí SNOM měření odhalovat citlivost SNOM sondy na detekci jednotlivých komponent elektrické intenzity blízkého pole. Nakonec je zde prezentována nová mikroskopická technika, která umožňuje 3D kvantitativní zobrazení rozložení fáze nad plazmonovými metapovrchy.
|
|
|
Use of a special optical fiber in an electron microscope chamber
Černek, Ondrej ; Konečný, Martin (oponent) ; Pavera, Michal (vedoucí práce)
This bachelor thesis is concerned about the modification of vacuum chamber of the Scanning Electron Microscope VEGA developed by TESCAN Brno s.r.o. in order to implementation of Scanning Probe Microscope. Moreover, it is dedicated to development of apparatus for using hollow optical fiber allowing the guidance of light and various gases on the sample surface placed in the vacuum of electron microscope. By using the hollow optical fiber as a probe of Scanning Probe Microscope, it is possible to work with a tip with specific properties. A brief introduction to Scanning Electron Microscopy and Atomic Force Microscopy is presented in the theoretical part. Furthermore, there is a technique of using optical fibers in Scanning Near-field Optical Microscopy described. Also a problem of vacuum systems, gas flow through the pipe and technique of Gas Injection System is introduced. In the construction part, there are initiated steps in the development of the vacuum chamber and the apparatus allowing the guidance of hollow optical fiber into the chamber of microscope. The experimental part presents the result of measurements obtained by probe of Scanning Probe Microscope with modified optical fiber and gas transmissivity of hollow optical fiber.
|
|
|
Local Isolation Of Microscale Defective Areas
In Monocrysline Silicon Solar Cells
Gajdos, Adam
This article is aimed on characterization of silicon solar cells microstructural inhomogeneities. To detect inhomogeneity or imperfection, reverse biased current voltage (I-V) measurement is used. These imperfections in some cases may cause avalanche type of breakdown, that can be visible in I-V curve. Therefore, the fact that certain imperfections emit light is used for localization needs. Raw localization is provided by electroluminescence (EL) method. Near-field scanning microscopy (SNOM) combined with photomultiplier tube is used for microscale localization. Both methods are done in reverse bias. Isolation of inhomogeneity by focused ion beam (FIB) is avoiding leakage current flow through it.
|
|
|
Luminiscence polovodičů studovaná rastrovací optickou mikroskopií v blízkém poli
Těšík, Jan ; Klapetek, Petr (oponent) ; Křápek, Vlastimil (vedoucí práce)
Práce je zaměřena na studium luminiscence atomárně tenkých vrstev chalkogenidů přechodných kovů (např. sulfid molybdeničitý MoS2). V experimentální části se věnuje připravě atomárně tenké vrstvy polovodivých chalkogenidů a následné tvorbě plazmonových interferenčních struktur okolo těchto vrstev. Při osvitu interferenční struktury v ní dojde k vytvoření stojaté plazmonové vlny, která budí fotoluminiscenci polovodiče. Fotoluminiscence byla studována jednak pomocí spektroskopie ve vzdáleném poli, jednak pomocí optické mikroskopie v blízkém poli.
|
|
|
Příprava a testování SNOM sond speciálních vlastností
Bobek, Juraj ; Pavera, Michal (oponent) ; Spousta, Jiří (vedoucí práce)
Oblasť výskumu, ktorá sa zaoberá úpravou povrchov a tvorbou nanoštruktúr, je ešte stále velmi neprebádaná. A iba malý príspevok do tejto oblasti je pojednávaný v tejto bakalárskej práci. Jej cieľom je výroba a testovanie sondy z dutého optického vlákna určenej do rastrovacej sondovej mikroskopie. Parametre optického vlákna v kombinácii s vhodnou technikou umožnia prelom mnohým zaujímavým aplikáciam. Za zmienku stojí vstrekovanie plynu do blízkosti povrchu vzorky (GIS) a jeho následná modifikácia použitím elektrónového (FEBID), iónového (FIBID) alebo laserového zväzku.
|
|
|
Příprava a testování SNOM sond se speciálními vlastnostmi
Hertl, Vít ; Kvapil, Michal (oponent) ; Spousta, Jiří (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce je zaměřena na přípravu funkčních sond z konvenčního dutého optického vlákna a jejich testování při měření na aparatuře SNOM. Dále se zde studují speciální vlastnosti těchto sond především jejich využití jako "nanoGIS". Předpokládá se vyřešení hlavních problémů spojených s přípravou sondy jako je například leptání vlákna zevnitř.
|
|
|
Field emission from the surface of highly ordered pyrolytic graphite
Knápek, Alexandr ; Pokorná, Zuzana
This paper deals with the electrical characterization of highly ordered pyrolytic graphite (HOPG) surface based on field emission of electrons. The effect of field emission, occurs only at disrupted surface, i.e. surface containing ripped and warped shreds of the uppermost layers of graphite. These deformations provide the necessary field gradients which are required for measuring tunneling current caused by field electron emission. Results of the field emission measurements are correlated with other surface\ncharacterization methods such as scanning near-field optical microscopy (SNOM) or atomic force microscopy. A simple method utilizing the field emission of electrons has been devised to characterize the sample surface. Electron and probe microscopies were used to determine the structure of both the bulk sample and the partially exfoliated shreds of the uppermost layers of graphite in locations where field emission is observed.
|
host ::
RSS.