Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 2 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Detekce zpětně odražených elektronů v nízkoenergiové oblasti spektra elektronového svazku v SEM
Přichystal, Vladimír
Práce je zaměřena především na výzkum detektoru pro společnou i oddělenou detekci zpětně odražených (BSE) a sekundárních elektronů (SE) v rastrovacím elektronovém mikroskopu za podmínek, kdy energie dopadajícího svazku primárních elektronů na vzorek činí 1 keV a méně. Hlavním úkolem je návrh a realizace detektoru pro elektronový rastrovací mikroskop JSM-6700F od firmy JEOL a následné měření vlastností tohoto detektoru a jeho vlivu na činnost mikroskopu.
The possibilities of using FFT for rating the quality of detected signal in ESEM
Přichystal, Vladimír
The main demand for processing of images from scanning electron microscope is acquirement of the best quality of raster image and description of attributes of micrographs and possibility of their comparison with other micrographs. Therefore software was compiled, which serves to numerical calculation of the Fast Fourier Transform (FFT) of micrographs, evaluation and development of their quality.

Viz též: podobná jména autorů
4 Přichystal, Vít
Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.