Hlavní stránka > Výsledky hledání: Khursheed, A.
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 1 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Possibilites of a secondary electrons bandpass filter for standard SEM
 Mika, Filip ; Pokorná, Zuzana ; Konvalina, Ivo ; Khursheed, A.
Secondary electron filtering in Scanning Electron Microscope (SEM) has been in use for over\na decade. This technique uncovers interesting contrasts in an otherwise ordinary SEM image\nwhich can possibly be used for dopant concentration mapping or for discerning the slight molecular weight differences in apparently homogeneous organic materials. Secondary\nelectron filtering of semiconductor samples seems very promising as it may shed light on the mechanism of SEM image contrast between p-doped and n-doped semiconductors, possibly\nallowing to determine dopant concentration from SEM image alone.
Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English