|
|
Advanced electron diffraction methods for structural description of zeolites
Laštovičková, Anna ; Mazur, Michal (advisor) ; Tyrpekl, Václav (referee)
Electron diffraction (ED) is a powerful tool for the structure determination of crystalline materials. It offers an alternative to single crystal X-ray diffraction (SCXRD) that is often limited by the size of synthesized crystals. Electron diffraction allows analysis of materials at the nanoscale, thus it is particularly useful for samples which crystals are too small for other methods. ED utilizes electrons for collection of diffraction patterns that can be performed in a transmission electron microscope (TEM). Collected ED patterns are further analyzed allowing for the determination of unit cell parameters, lattice type, and even the crystal structure itself. Nevertheless, the effective structure determination from standard ED patterns requires in-depth expertise and data collection is time consuming. Current development of ED methods focuses on the facilitation and automatization of data collection and processing. Notably, highly advanced, continuous rotation electron diffraction (cRED) data collection takes only a few minutes enabling structure determination within a single day. In this work, I present the utilization of cRED method for the structural characterization of zeolites. These materials are often synthesized as polycrystalline samples with crystals of nanometer in size. This makes...
|
|
|
Correlation of electron backscatter diffraction for elastic stress mapping
Ondračka, Václav ; Kuběna, Ivo (referee) ; Spousta, Jiří (advisor)
Electron backscatter diffraction is a method that is well described and commonly used for orientation image mapping, including grain size estimation. The use of this method for measuring elastic deformation and rotations caused by plastic deformations is not so well decribed. This diploma thesis first describes the typical EBSD system. The information regarding the standard coordinate systems, grain orientation notation and system calibration is then used to create an open-source software for mapping elastic deformations and rotations inside a single grain or a monocrystal. This software uses data acquired during standard EBSD mapping on a commercial system.
|
|
|
Phase plates for transmission electron microscopy
Špičáková, Tereza ; Sháněl, Ondřej (referee) ; Konečná, Andrea (advisor)
Vzorky tvořené atomy lehčích prvků, jako jsou například biologické preparáty, dosahují na snímcích z transmisních elektronových mikroskopů nízkého kontrastu. Pokud však vneseme mezi elektrony nesoucí informaci o zkoumaném vzorku a elektrony pozadí dodatečný fázový posun, dojde k výraznému navýšení kontrastu bez negativních dopadů na kvalitu obrazu. Tohoto efektu lze v mikroskopech dosáhnout s pomocí fázových destiček. V konvenčních transmisních elektronových mikroskopech se běžně využívají fázové destičky založené na tenkých vrstvách amorfního uhlíku. V posledních letech byly detailně zkoumány různé pokročilé designy fázových destiček. Jen několik málo studií se však věnuje alternativním materiálům, které by bylo možné použít jako tenkovrstvé fázové destičky. Hlavním cílem této diplomové práce je tedy navrhnout způsoby měření fázových vlastností různých materiálů. V první části práce je nejprve popsána teorie zobrazování elektronovou vlnou v transmisních elektronových mikroskopech. Dále jsou zde prezentovány a porovnány různé druhy fázových destiček. Ve druhé části práce jsou představeny čtyři návrhy experimentálního uspořádání, z nichž dva byly experimentálně otestovány. Tato měření byla provedena na sadách vzorků různých materiálů a tlouštěk a vhodně zpracována. Na závěr bylo kvalitativní chování těchto návrhů porovnáno s teoretickými výpočty.
|
|
|
Phase plates for transmission electron microscopy
Špičáková, Tereza ; Sháněl, Ondřej (referee) ; Konečná, Andrea (advisor)
Vzorky tvořené atomy lehčích prvků, jako jsou například biologické preparáty, dosahují na snímcích z transmisních elektronových mikroskopů nízkého kontrastu. Pokud však vneseme mezi elektrony nesoucí informaci o zkoumaném vzorku a elektrony pozadí dodatečný fázový posun, dojde k výraznému navýšení kontrastu bez negativních dopadů na kvalitu obrazu. Tohoto efektu lze v mikroskopech dosáhnout s pomocí fázových destiček. V konvenčních transmisních elektronových mikroskopech se běžně využívají fázové destičky založené na tenkých vrstvách amorfního uhlíku. V posledních letech byly detailně zkoumány různé pokročilé designy fázových destiček. Jen několik málo studií se však věnuje alternativním materiálům, které by bylo možné použít jako tenkovrstvé fázové destičky. Hlavním cílem této diplomové práce je tedy navrhnout způsoby měření fázových vlastností různých materiálů. V první části práce je nejprve popsána teorie zobrazování elektronovou vlnou v transmisních elektronových mikroskopech. Dále jsou zde prezentovány a porovnány různé druhy fázových destiček. Ve druhé části práce jsou představeny čtyři návrhy experimentálního uspořádání, z nichž dva byly experimentálně otestovány. Tato měření byla provedena na sadách vzorků různých materiálů a tlouštěk a vhodně zpracována. Na závěr bylo kvalitativní chování těchto návrhů porovnáno s teoretickými výpočty.
|
|
|
Correlation of electron backscatter diffraction for elastic stress mapping
Ondračka, Václav ; Kuběna, Ivo (referee) ; Spousta, Jiří (advisor)
Electron backscatter diffraction is a method that is well described and commonly used for orientation image mapping, including grain size estimation. The use of this method for measuring elastic deformation and rotations caused by plastic deformations is not so well decribed. This diploma thesis first describes the typical EBSD system. The information regarding the standard coordinate systems, grain orientation notation and system calibration is then used to create an open-source software for mapping elastic deformations and rotations inside a single grain or a monocrystal. This software uses data acquired during standard EBSD mapping on a commercial system.
|
|
|
Creation of electron vortex beams using the holographic reconstruction method in a scanning electron microscope
Řiháček, Tomáš ; Horák, M. ; Schachinger, T. ; Matějka, Milan ; Mika, Filip ; Müllerová, Ilona
Electron vortex beams (EVB) were theoretically predicted in 2007 and first experimentally\ncreated in 2010. Although they attracted attention of many researchers, their\ninvestigation takes place almost solely in connection with transmission electron microscopes (TEM). On the other hand, although scanning electron microscopes (SEM) may provide some advantages for EVB applications, only little attention has been dedicated to them. Therefore, the aim of this work is to create electron vortices in SEM at energies of several keV.
|
|
|
Nanosized particles of oxides and oxide-hydroxides of Mg, Al, Ti
Šubrt, Jan ; Štengl, Václav ; Svobodová, Monika ; Bezdička, Petr ; Kváča, Zdeněk ; Večerníková, Eva ; Bakardjieva, Snejana
Nanosized particles of oxides and oxide-hydroxides of Mg, Al, Ti and Fe were prepared from organic precursors and by homogeneous precipitation of aqueous solutions. The oxide-hydroxides were dried using the 'Critical point drying' method and were characterized by SEM, TEM, electron diffraction, XRD and also by methods of thermal analysis.
|
guest ::
