Hlavní stránka > Výsledky hledání: recid:332287
Hledej:
 
Tipy pro vyhledávaní :: Jednoduché hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 1 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 

Warning: Requested record does not seem to exist.
Investigating model CeO2 and TiO2 systems by means of Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy
 Stetsovych, Oleksandr ; Mysliveček, Josef (vedoucí práce) ; Jelínek, Pavel (oponent) ; Klapetek, Petr (oponent)
Charakterizace materialu na atomarni urovni je nepostradatelna pro zakladni vyzkum jejich vlastnosti. V teto praci jsou charakterizovany modelove systemy technologicky dulezitych oxidu ceru a titanu kombinaci rastrovaci tunelove mikroskopie (STM) a bezkontaktni mikroskopie atomarnich sil (NC AFM). Modelove systemy oxidu ceru jsou ve forme tenkych vrstev oxidovaneho a redukovaneho oxidu ceru na monokrystalu medi. Je studovana interakce techto modelovych systemu s adsorbaty dulezitymi pro heterogenni katalyzu (voda, metanol) na atomarni urovni. Modelove systemy oxidu titanu jsou ve forme molekul C60 a pentacenu adsorbovanych na povrchu monokrystalu oxidu titanu - anatase. Tyto organicke tenke vrstvy na oxidu titanu jsou studovany s intramolekularnim rozlisenim pomoci nove vyvinute merici metody dvoupruchodoveho rastrovani v NC AFM. Je predstaveno take vysvetleni vzniku atomarniho kontrastu na povrsich oxidu ceru a titanu v STM i NC AFM. Powered by TCPDF (www.tcpdf.org)
Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English