Hlavní stránka > Výsledky hledání: keywords:"extrinzický Fabry-Pérotův interferometr"
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 2 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Měření velmi malých výchylek pomocí optovláknového interferometru
 Vybíral, Dominik ; Šedivá, Soňa (oponent) ; Havránek, Zdeněk (vedoucí práce)
Tato diplomová práce je zaměřena na optické metody měření malých dynamických výchylek volného povrchu. Byly popsány principy interferometrů dosahujících pikometrových rozlišení včetně extrinzického Fabry-Pérotova interferometru a sestaven měřicí řetězec využívající tento interferometr. Dále byly diskutovány parazitní vlivy působící na Fabry-Pérotův interfer ometr a různé metody zpracování výstupního signálu interferometru. Byl navržen interferometrický měřič výchylky volného povrchu s pikometrovým rozlišením s frekvenčním rozsahem desítky kHz. Tyto parametry jsou dosažitelné za předpokladu, že na měřený vzorek je umístěna vrstva fotonického krystalu.
Úplný záznam
Měření velmi malých výchylek pomocí optovláknového interferometru
 Vybíral, Dominik ; Šedivá, Soňa (oponent) ; Havránek, Zdeněk (vedoucí práce)
Tato diplomová práce je zaměřena na optické metody měření malých dynamických výchylek volného povrchu. Byly popsány principy interferometrů dosahujících pikometrových rozlišení včetně extrinzického Fabry-Pérotova interferometru a sestaven měřicí řetězec využívající tento interferometr. Dále byly diskutovány parazitní vlivy působící na Fabry-Pérotův interfer ometr a různé metody zpracování výstupního signálu interferometru. Byl navržen interferometrický měřič výchylky volného povrchu s pikometrovým rozlišením s frekvenčním rozsahem desítky kHz. Tyto parametry jsou dosažitelné za předpokladu, že na měřený vzorek je umístěna vrstva fotonického krystalu.
Úplný záznam

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English