|
|
Příprava a charakterizace SNOM sond
Robešová, Magdaléna ; Rovenská, Katarína (oponent) ; Dvořák, Petr (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá precizní výrobou sond pro rastrovací optickou mikroskopii blízkého pole (SNOM) a jejich charakterizací. Jelikož SNOM sonda v průběhu měření ovlivňuje blízké elektromagnetické pole, je kvalita výroby těchto sond a jejich přesná charakterizace klíčovým prvkem umožňující správnou interpretaci naměřených výsledků. Tato bakalářská práce má za cíl provést rešeršní studii na téma SNOM, SNOM sondy a jejich příprava. Dále pak připravit a charakterizovat funkční SNOM sondy, které bude možno použít k optické detekci interference povrchových plazmonových polaritonů (SPP).
|
|
|
Interakce mezi SNOM hrotem a blízkým elektromagnetickým polem
Krpenský, Jan ; Kvapil, Michal (oponent) ; Dvořák, Petr (vedoucí práce)
Vzájemná interakce mezi sondou pro rastrovací optickou mikroskopii v blízkém poli (SNOM) a blízkým elektromagnetickým polem je fundamentální problém, jehož řešení je nutnou podmínkou ke správné interpretaci experimentálních dat. Tato bakalářská práce si klade za cíl tento problém popsat rešeršní studií a pomocí precizní výroby vlastních SNOM sond napomoci k jeho vyřešení. K tomuto účelu je využíváno detekce rozložení blízkého pole generovaného interferencí povrchových plazmonových polaritonů (SPP) na čtvercových nanostrukturách. Touto studií byla prokázána citlivost SNOM sondy na jednotlivé komponenty blízkého pole v závislosti na velikosti SNOM apertury.
|
|
|
Příprava a charakterizace SNOM sond
Robešová, Magdaléna ; Rovenská, Katarína (oponent) ; Dvořák, Petr (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá precizní výrobou sond pro rastrovací optickou mikroskopii blízkého pole (SNOM) a jejich charakterizací. Jelikož SNOM sonda v průběhu měření ovlivňuje blízké elektromagnetické pole, je kvalita výroby těchto sond a jejich přesná charakterizace klíčovým prvkem umožňující správnou interpretaci naměřených výsledků. Tato bakalářská práce má za cíl provést rešeršní studii na téma SNOM, SNOM sondy a jejich příprava. Dále pak připravit a charakterizovat funkční SNOM sondy, které bude možno použít k optické detekci interference povrchových plazmonových polaritonů (SPP).
|
|
|
Interakce mezi SNOM hrotem a blízkým elektromagnetickým polem
Krpenský, Jan ; Kvapil, Michal (oponent) ; Dvořák, Petr (vedoucí práce)
Vzájemná interakce mezi sondou pro rastrovací optickou mikroskopii v blízkém poli (SNOM) a blízkým elektromagnetickým polem je fundamentální problém, jehož řešení je nutnou podmínkou ke správné interpretaci experimentálních dat. Tato bakalářská práce si klade za cíl tento problém popsat rešeršní studií a pomocí precizní výroby vlastních SNOM sond napomoci k jeho vyřešení. K tomuto účelu je využíváno detekce rozložení blízkého pole generovaného interferencí povrchových plazmonových polaritonů (SPP) na čtvercových nanostrukturách. Touto studií byla prokázána citlivost SNOM sondy na jednotlivé komponenty blízkého pole v závislosti na velikosti SNOM apertury.
|
host ::
RSS.