|
|
Vytváření nanostruktur na površích pevných látek hybridními metodami
Rudolfová, Zdena ; Mikulík, Petr (oponent) ; Horová, Ivana (oponent) ; Kolíbal, Miroslav (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá studiem vlastností GaAs povrchu a metodikou nanášení kovových (převážně zlatých) nanočástic na GaAs substrát. GaAs má složitou strukturu povrchových oxidů, které jsou při kontaktu s různými chemickými látkami (ať už kyselými nebo zása- ditými) velmi reaktivní a mění tak povrchové vlastnosti GaAs. Proto je studium těchto vlastností klíčové pro pochopení reaktivity GaAs povrchu na koloidní roztok kovových nanočástic, ze kterého se tyto nanočástice na povrch nanáší. Jsou diskutovány možnosti leptání a pasivace GaAs povrchu za účelem zajištění stability povrchu při nanášení ko- loidních nanočástic. Dále byl zkoumán vliv adhezních polymerů nanesených na povrch GaAs na množství nanočástic přichycených na povrch po ponoření substrátu do koloid- ního roztoku. Pro objektivní zhodnocení homogenity rozmístění nanočástic na povrchu byla vytvořena metoda pracující na principu Voroného mozaiky. Díky této metodě lze ob- jektivně srovnávat adhezi nanočástic na různě modifikované povrchy. Dále lze analyzovat anizotropie nanočástic na povrchu, tedy, zda je homogenita ve všech směrech stejná, či zda je pozorovatelná určitá směrovost. Dalším zaměřením této práce je analyzovat možnosti, jak zlaté koloidní nanočástice nanést na GaAs výběrově, tedy pouze na předem určená místa. Tato místa byla určena pomocí expozice svazkem nabitých částic.
|
|
|
Návrh a testování vhodné metodiky pro čištění povrchů preparátů in situ pro elektronovou mikroskopii pomalými elektrony
Rudolfová, Zdena ; Vávra,, Ivo (oponent) ; Kolíbal, Miroslav (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá metodikou přípravy polovodičových vzorků pro pozorování dopova- ných struktur v rastrovacím elektronovém mikroskopu pomalými elektrony. V první části je podrobně zpracována teorie zobrazování povrchů pomocí elektronového svazku a rozdíly klasické rastrovací elektronové mikroskopie (SEM) a rastrovací elektronové mikroskopie pomalými elektrony (LVSEM). Je vysvětlen vznik kontrastu v SEM i LVSEM i teorie popisující vznik kontrastu různě dopovaných polovodičů. Druhá část obsahuje naměřená experimentální data. Jsou diskutovány výhody a nedostatky přípravy povrchu štípáním i fokusovaným iontovým svazkem (FIB), který byl shledán jako nejlepší způsob přípravy povrchu pro analýzu přesně určeného místa na vzorku. Nutné je použití co nejnižšího urychlovacího napětí závěrečného leštění FIB, ideálně 1 kV.
|
|
|
Korekce pozadí zobrazení fáze v digitálním holografickém mikroskopu užitím konvoluce
Rudolfová, Zdena ; Malina, Radomír (oponent) ; Uhlířová, Hana (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá korekcí pozadí v obrazu fáze buňek z transmisního digitálního holografického mikroskopu (TDHM). Vlivem optických vad a nedokonalostí v optických soustavách předmětové i referenční větve dochází k "deformaci" obrazu fáze. Buňka není zobrazena na pozadí s konstantní hodnotou fáze, ale na pozadí s~hodnotami fáze spojitě se měnícími mezi různými místy obrazu. V této práci je popsána metoda, jak následek této vady optického systému z obrazu odstranit. Princip spočívá v provedení částečné konvoluce obrazu fáze s konvolučním jádrem určeným dvourozměrnou Gaussovou funkcí se stejným rozptylem v obou osách. Při výpočtu konvoluce není zpracováván obraz celý, ale pouze místa, kde se nenachází buňky. Tím je eliminována ztráta informací o buňkách. Výsledek konvoluce je považován za aproximaci pozadí, která je poté od původního obrazu odečtena. Získáme tak obraz fáze s konstantním pozadím zatíženým pouze šumem. V úvodní části je shrnut potřebný matematický aparát. Dále je popsán základní princip rekonstrukce zobrazení v TDHM. Jako součást práce byl vytvořen program Odečet pozadí, který užitím popsané metody zpracovává obrazy fáze z TDHM.
|
|
|
Vytváření nanostruktur na površích pevných látek hybridními metodami
Rudolfová, Zdena ; Mikulík, Petr (oponent) ; Horová, Ivana (oponent) ; Kolíbal, Miroslav (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá studiem vlastností GaAs povrchu a metodikou nanášení kovových (převážně zlatých) nanočástic na GaAs substrát. GaAs má složitou strukturu povrchových oxidů, které jsou při kontaktu s různými chemickými látkami (ať už kyselými nebo zása- ditými) velmi reaktivní a mění tak povrchové vlastnosti GaAs. Proto je studium těchto vlastností klíčové pro pochopení reaktivity GaAs povrchu na koloidní roztok kovových nanočástic, ze kterého se tyto nanočástice na povrch nanáší. Jsou diskutovány možnosti leptání a pasivace GaAs povrchu za účelem zajištění stability povrchu při nanášení ko- loidních nanočástic. Dále byl zkoumán vliv adhezních polymerů nanesených na povrch GaAs na množství nanočástic přichycených na povrch po ponoření substrátu do koloid- ního roztoku. Pro objektivní zhodnocení homogenity rozmístění nanočástic na povrchu byla vytvořena metoda pracující na principu Voroného mozaiky. Díky této metodě lze ob- jektivně srovnávat adhezi nanočástic na různě modifikované povrchy. Dále lze analyzovat anizotropie nanočástic na povrchu, tedy, zda je homogenita ve všech směrech stejná, či zda je pozorovatelná určitá směrovost. Dalším zaměřením této práce je analyzovat možnosti, jak zlaté koloidní nanočástice nanést na GaAs výběrově, tedy pouze na předem určená místa. Tato místa byla určena pomocí expozice svazkem nabitých částic.
|
|
|
Návrh a testování vhodné metodiky pro čištění povrchů preparátů in situ pro elektronovou mikroskopii pomalými elektrony
Rudolfová, Zdena ; Vávra,, Ivo (oponent) ; Kolíbal, Miroslav (vedoucí práce)
Tato práce se zabývá metodikou přípravy polovodičových vzorků pro pozorování dopova- ných struktur v rastrovacím elektronovém mikroskopu pomalými elektrony. V první části je podrobně zpracována teorie zobrazování povrchů pomocí elektronového svazku a rozdíly klasické rastrovací elektronové mikroskopie (SEM) a rastrovací elektronové mikroskopie pomalými elektrony (LVSEM). Je vysvětlen vznik kontrastu v SEM i LVSEM i teorie popisující vznik kontrastu různě dopovaných polovodičů. Druhá část obsahuje naměřená experimentální data. Jsou diskutovány výhody a nedostatky přípravy povrchu štípáním i fokusovaným iontovým svazkem (FIB), který byl shledán jako nejlepší způsob přípravy povrchu pro analýzu přesně určeného místa na vzorku. Nutné je použití co nejnižšího urychlovacího napětí závěrečného leštění FIB, ideálně 1 kV.
|
|
|
Korekce pozadí zobrazení fáze v digitálním holografickém mikroskopu užitím konvoluce
Rudolfová, Zdena ; Malina, Radomír (oponent) ; Uhlířová, Hana (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce se zabývá korekcí pozadí v obrazu fáze buňek z transmisního digitálního holografického mikroskopu (TDHM). Vlivem optických vad a nedokonalostí v optických soustavách předmětové i referenční větve dochází k "deformaci" obrazu fáze. Buňka není zobrazena na pozadí s konstantní hodnotou fáze, ale na pozadí s~hodnotami fáze spojitě se měnícími mezi různými místy obrazu. V této práci je popsána metoda, jak následek této vady optického systému z obrazu odstranit. Princip spočívá v provedení částečné konvoluce obrazu fáze s konvolučním jádrem určeným dvourozměrnou Gaussovou funkcí se stejným rozptylem v obou osách. Při výpočtu konvoluce není zpracováván obraz celý, ale pouze místa, kde se nenachází buňky. Tím je eliminována ztráta informací o buňkách. Výsledek konvoluce je považován za aproximaci pozadí, která je poté od původního obrazu odečtena. Získáme tak obraz fáze s konstantním pozadím zatíženým pouze šumem. V úvodní části je shrnut potřebný matematický aparát. Dále je popsán základní princip rekonstrukce zobrazení v TDHM. Jako součást práce byl vytvořen program Odečet pozadí, který užitím popsané metody zpracovává obrazy fáze z TDHM.
|
host ::
RSS.