Hlavní stránka > Výsledky hledání: Čermák, Rastislav
Hledej:
Tipy pro vyhledávaní :: Rozšířené hledání
Hledej ve sbírkách:
Seřadit podle: Zobrazit výsledky: Výstupní formát:
Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 2 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 
Investigation of properties of CdTe single-crystals surfaces with sub-nanometer depth resolution
 Čermák, Rastislav ; Bábor, Petr (oponent) ; Šik, Ondřej (vedoucí práce)
In the Central European Institute of Technology (CEITEC) laboratires, a Qtac device is available, allowing us to quantitatively measure the composition of the upper-most atomic layer of different materials, including dielectrics. Qtac uses the backscattering of low-energy ions, the so-called LEIS method. Besides the surface atomic layer analysis, using the Dynamic mode LEIS can determine the depth profile of elemental concentrations with sub-nanometer precision.
Úplný záznam
Investigation of properties of CdTe single-crystals surfaces with sub-nanometer depth resolution
 Čermák, Rastislav ; Bábor, Petr (oponent) ; Šik, Ondřej (vedoucí práce)
In the Central European Institute of Technology (CEITEC) laboratires, a Qtac device is available, allowing us to quantitatively measure the composition of the upper-most atomic layer of different materials, including dielectrics. Qtac uses the backscattering of low-energy ions, the so-called LEIS method. Besides the surface atomic layer analysis, using the Dynamic mode LEIS can determine the depth profile of elemental concentrations with sub-nanometer precision.
Úplný záznam

Viz též: podobná jména autorů
6 Čermák, Radek
3 Čermák, Radim
2 Čermák, Robin
7 Čermák, Roman
Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.
Digitální repozitář :: Hledej :: Nový záznam :: Personalizace :: Nápověda
Powered by Invenio v1.1.2
Spravuje admin.invenio@techlib.cz
Tato stránka je dostupná také v následujících jazycích:
Česky  English