Národní úložiště šedé literatury Nalezeno 1 záznamů.  Hledání trvalo 0.00 vteřin. 

Warning: Requested record does not seem to exist.
Testování SRAM pamětí s využitím MBIST
Sedlář, Jan ; Fujcik, Lukáš (oponent) ; Hejátková, Edita (vedoucí práce)
Práce se zabývá testováním pamětí SRAM pomocí metody MBIST s využitím softwaro-vého nástroje Tessent Memory BIST. Cílem je seznámit se s testováním pamětí a vytvořitnávrh na specifickém čipu, kterému po implementaci testovací logiky budou zachoványpůvodní vlastnosti a funkce. Následně je provedeno vyhodnocení tohoto nástroje a jehopoužitelnost.

Chcete být upozorněni, pokud se objeví nové záznamy odpovídající tomuto dotazu?
Přihlásit se k odběru RSS.