Home > Search Results: keywords:"středně infračervená"
Search:
Search Tips :: Advanced Search
Search collections:
Sort by: Display results: Output format:
National Repository of Grey Literature 2 records found  Search took 0.01 seconds. 
Evaluation of Different Dielectrics For Mid-Infrared Waveguides
 Konečný, Aleš ; Arregi Uribeetxebarria, Jon Ander (referee) ; Detz, Hermann (advisor)
Využití plasmonovo polaritonových vlnovodů se ukázalo vhodné pro senzorové aplikace ve středně infračervené oblasti spektra. Vlnovod je v kontaktu s médiem v plynném či kapalném stavu, který obsahuje měřenou koncentraci hledané látky. Při šíření elektromagnetického vzruchu jsou na něj kladeny podmínky nízkých ztrát a dostatečné interakce s médiem. Tyto podmínky jsou splněny, je-li na kov nanesena tenká dielektrická vrstva. Tato práce je zaměřena na dielektrika na bázi křemíku. Součástí práce byla výroba vícevrstevnatých vlnovodů technikou plazmaticky vylepšené chemické depozice, magnetronového naprašování a metodou fotolitografie. Nanášení vrstev probíhalo na obvykle užívané Si substráty. Hodnocení dielektrických vrstev a výrobních metod probíhá na základě elipsometrických měření indexu lomu a absorbce v infračervené oblasti spektra.
Detailed record
Evaluation of Different Dielectrics For Mid-Infrared Waveguides
 Konečný, Aleš ; Arregi Uribeetxebarria, Jon Ander (referee) ; Detz, Hermann (advisor)
Využití plasmonovo polaritonových vlnovodů se ukázalo vhodné pro senzorové aplikace ve středně infračervené oblasti spektra. Vlnovod je v kontaktu s médiem v plynném či kapalném stavu, který obsahuje měřenou koncentraci hledané látky. Při šíření elektromagnetického vzruchu jsou na něj kladeny podmínky nízkých ztrát a dostatečné interakce s médiem. Tyto podmínky jsou splněny, je-li na kov nanesena tenká dielektrická vrstva. Tato práce je zaměřena na dielektrika na bázi křemíku. Součástí práce byla výroba vícevrstevnatých vlnovodů technikou plazmaticky vylepšené chemické depozice, magnetronového naprašování a metodou fotolitografie. Nanášení vrstev probíhalo na obvykle užívané Si substráty. Hodnocení dielektrických vrstev a výrobních metod probíhá na základě elipsometrických měření indexu lomu a absorbce v infračervené oblasti spektra.
Detailed record

Interested in being notified about new results for this query?
Subscribe to the RSS feed.
Digital Repository :: Search :: Submit :: Personalize :: Help
Powered by Invenio v1.1.2
Maintained by admin.invenio@techlib.cz
This site is also available in the following languages:
Česky  English